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X射线对硅元素的测定和图谱分析
1
作者
李芳
王少飞
《新课程(教研版)》
2014年第8期103-104,共2页
用X射线对硅元素进行测定,通过衍射①图谱分析及数据处理,再根据峰值测出20值。计算出对应的d值,与相应的理论值进行对比。
关键词
X射线衍射
硅元素
图谱分析
20
d值
下载PDF
职称材料
题名
X射线对硅元素的测定和图谱分析
1
作者
李芳
王少飞
机构
内蒙古新闻广电局
内蒙古
自治区包头市第八中学
出处
《新课程(教研版)》
2014年第8期103-104,共2页
文摘
用X射线对硅元素进行测定,通过衍射①图谱分析及数据处理,再根据峰值测出20值。计算出对应的d值,与相应的理论值进行对比。
关键词
X射线衍射
硅元素
图谱分析
20
d值
Keywords
X-ray diffraction
silicon
spectrum analysis
20
d values
分类号
TN911.6 [电子电信—通信与信息系统]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
X射线对硅元素的测定和图谱分析
李芳
王少飞
《新课程(教研版)》
2014
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