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工业自动化仪表及系统的智能化发展研究
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作者 常宜龙 《数字化用户》 2020年第32期7-9,共3页
本文简要分析工业自动化仪表及系统智能化的可能性,重点强调现阶段常见的检测仪表,并以工业自动化仪表及系统的智能化发展趋势作为切入点,对电源转换技术的应用、Flash 存储器与数字电位器、嵌入式 Internet 技术以及软硬件协调设计模... 本文简要分析工业自动化仪表及系统智能化的可能性,重点强调现阶段常见的检测仪表,并以工业自动化仪表及系统的智能化发展趋势作为切入点,对电源转换技术的应用、Flash 存储器与数字电位器、嵌入式 Internet 技术以及软硬件协调设计模式开发等方面进行研究分析,期望能够为相关人员提供参考。 展开更多
关键词 工业 自动化仪表 自动化系统 智能化发展
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以差异化竞争为基础的企业市场营销战略研究 被引量:5
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作者 常宜龙 《中国商论》 2020年第10期44-45,共2页
随着市场经济的不断发展,企业之间竞争不断加剧,市场营销作为企业竞争的核心因素,会对企业未来发展产生重要影响.差异化竞争可以将企业自身和竞争对手进行合理划分,帮助企业在市场中更好的立足,便于获得顾客信赖与支持,最终促进企业不... 随着市场经济的不断发展,企业之间竞争不断加剧,市场营销作为企业竞争的核心因素,会对企业未来发展产生重要影响.差异化竞争可以将企业自身和竞争对手进行合理划分,帮助企业在市场中更好的立足,便于获得顾客信赖与支持,最终促进企业不断向前发展.基于此,本文以差异化竞争为基础的企业市场营销战略展开分析,希望能对当前的企业发展提供辅助作用. 展开更多
关键词 差异化 市场营销 战略
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基于嵌入式结构半导体芯片信息测试系统平台设计
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作者 常宜龙 《计算机测量与控制》 2023年第11期131-136,166,共7页
为解决因半导体芯片信息平均压缩比较大而导致的信息测试时间过长的问题,设计基于嵌入式结构半导体芯片信息测试系统平台;根据嵌入式终端体系布局形式,建立LeNet网络模型,再以此为基础,完善SMTExecutor结构的执行流程,实现信息测试系统... 为解决因半导体芯片信息平均压缩比较大而导致的信息测试时间过长的问题,设计基于嵌入式结构半导体芯片信息测试系统平台;根据嵌入式终端体系布局形式,建立LeNet网络模型,再以此为基础,完善SMTExecutor结构的执行流程,实现信息测试系统平台的工具集模块设计;分别定义Deflate机制、LZ4机制,联合数据信息参量,规范系统平台同步化线程的执行模式,实现对半导体芯片信息的处理;按照嵌入式结构定义标准,生成配置文件,通过导入关键信息的方式,规划量化测试条件,从而对命令词进行识别,实现对测试系统功能的优化,联合工具集模块,完成基于嵌入式结构半导体芯片信息测试系统平台的设计;实验结果表明,上述系统平台的应用,可以在数据导入过程中解决半导体芯片信息平均压缩比过大的问题,能够大幅缩短信息测试时间,符合实际应用需求。 展开更多
关键词 嵌入式结构 半导体芯片 信息测试 工具集模块
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