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利用迈克耳孙干涉仪测量透明体的折射率
被引量:
4
1
作者
母柏松
马孟祺
陈云琳
《物理与工程》
2015年第4期51-53,59,共4页
光的干涉在光学领域有着广泛的应用,本文提出用迈克耳孙干涉仪测量薄透明体折射率的方法,当被测透明体插入迈克耳孙干涉仪的光路中时,其会与光路呈不同夹角,对应光程变化可通过等倾干涉圆环的变化,根据实验仪器吞吐圆环数、薄透明体厚...
光的干涉在光学领域有着广泛的应用,本文提出用迈克耳孙干涉仪测量薄透明体折射率的方法,当被测透明体插入迈克耳孙干涉仪的光路中时,其会与光路呈不同夹角,对应光程变化可通过等倾干涉圆环的变化,根据实验仪器吞吐圆环数、薄透明体厚度、薄透明体折射率、薄透明体与光路夹角之间的关系,据此可同时测得薄透明体厚度和折射率.并且在测量过程中系统不再变动,可使系统误差进一步降低.
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关键词
迈克耳孙干涉仪
单色光
分光计
折射率
厚度
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职称材料
题名
利用迈克耳孙干涉仪测量透明体的折射率
被引量:
4
1
作者
母柏松
马孟祺
陈云琳
机构
北京交通大学理学院国家级物理实验中心
北京交通大学
交通
运输
学院
出处
《物理与工程》
2015年第4期51-53,59,共4页
文摘
光的干涉在光学领域有着广泛的应用,本文提出用迈克耳孙干涉仪测量薄透明体折射率的方法,当被测透明体插入迈克耳孙干涉仪的光路中时,其会与光路呈不同夹角,对应光程变化可通过等倾干涉圆环的变化,根据实验仪器吞吐圆环数、薄透明体厚度、薄透明体折射率、薄透明体与光路夹角之间的关系,据此可同时测得薄透明体厚度和折射率.并且在测量过程中系统不再变动,可使系统误差进一步降低.
关键词
迈克耳孙干涉仪
单色光
分光计
折射率
厚度
Keywords
Michelson interferometer
monochromatic light
spectrometer
refractive index
thickness
分类号
O436.1 [机械工程—光学工程]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
利用迈克耳孙干涉仪测量透明体的折射率
母柏松
马孟祺
陈云琳
《物理与工程》
2015
4
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职称材料
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