多任务并发测试技术在提高测试效率降低测试成本中的应用

本文介绍了多任务并发测试技术的基本原理。采用此技术后,可大大提升测试效率,降低测试成本。

微电子器件测试技术(上)

本文分析了微电子器件的发展趋势,论述了微电子器件的测试筛选与质量控制的关系。重点结合了华峰测控的STS2100系列测试系统介绍了各种微电子器件的相关测试技术,同时也介绍了测试失效分析及其重要性。

运算放大器的闭环参数测试

介绍了运算放大器闭环参数的测试原理,分析了影响运算放大器闭环参数测试精度和稳定性的诸多原因和因素,及所采取的针对性措施,还探讨了闭环参数的测试精度、测试稳定性和测试适应性的评价问题。介绍了STS 2107C模拟器件测试系统。

浮动电压电流源在IC测试中的应用

本文介绍了浮动电压电流源(Floating VI source,简称"浮动源")的基本原理及应用注意事项,并以一颗LDO为例介绍了浮动源的实际测试中的典型应用。

STS2100系列电子元器件测试系统

STS2 10 0系统是北京华峰测控技术公司自行研制开发的系列化电子元器件测试系统 ,本文结合该系统的总体设计思想 ,分析、比较探讨了各类小型智能化电子元器件测试系统的特点 ,并对测试系统如何适合我国国情的问题提出了看法。

ATE中的浮动V/I源

本文论述了浮动V/I源和共地V/I源的构造区别,及在开尔文检测和多工位并测方面的差异,论述了浮动V/I源的各种类型和应用优势,并分析了浮动V/I源的共模干扰和与此相关的一些认识误区。关键词:浮动V/I源;共地V/I源;多工位并测;

我国的IC产业和IC测试

集成电路IC一直是发展最迅速的产业之一。随着计算机技术和半导体技术的飞速发展,IC几乎渗透到了一切领域。现在已无法想象没有IC当今世界将会怎样。

电子元器件测试系统选型方法

文章分析了我国整机企业的元器件测试需求和“小而全”测试体制,以及整机企业在测试系统选型中的一些认识和倾向,比较、分析了选择国产测试系统和进口测试系统,选择中、小型测试系统和大型测试系统的利弊,并对测试系统的选型和评价提出了看法。

全新构架的中大功率分立器件测试系统STS8203

本文介绍了AccoTEST最新推出的基于STS8200总线平台,配以高压、大电流的测试板卡、雪崩测试板和热阻测试板,并在一个系统中完成并行的直流(DC)和交流(AC)分站测试的中大功率分立器件测试系统STS8203。

脉冲宽度调制(PWM)器件的测试

本文介绍了PWM器件的出现、功能、结构和优点。同时,结合STS 2110B脉冲宽度调制器件测试系统,对PWM器件的测试原理和实现方法加以阐述和介绍。

功率器件的瞬态热阻测试

本文介绍了半导体器件热阻的基本概念,讨论了稳态热阻和瞬态热阻的差别,并重点论述了瞬态热阻的测试原理和方法,说明了瞬态热阻测试的技术难点,还对瞬态热阻的测试条件与合格判据的设定提出原则性建议。

基于ATE平台的PMIC调试体会

本文以一个典型的手机电源管理芯片为例,阐述了基于ATE平台的电源管理集成电路(PMIC)量产调试方面的个人体会。

整机企业电子元器件测试系统选型

文章分析了我国整机企业的元器件测试需求和"小而全"测试体制,以及整机企业在测试系统选型中的一些认识和倾向,比较、分析了选择国产测试系统和进口测试系统,选择中、小型测试系统和大型测试系统的利弊,并对测试系统的选型和评价提出了看法。

整机企业电子元器件测试系统选型

四、国产测试系统和进口测试系统的比较 客观地说从测试系统的硬件技术性能、可靠性,软件功能等方面,进口测试系统比国产测试系统有更大的优势,例如数字测试系统的通道数、图形速率、定时精度等。有资金来源能引进国外系统,并能很好地投入运行当然是一件好事。但事情必须辨证地看,用好进口系统也有一些先决条件,如测试软件、系统维护和技术支持等一系列问题的解决。 在器件测试软件方面,国产测试系统拥有较大的优势。

整机企业电子元器件测试系统选型

一、整机企业的测试需求和测试体制 随着整机和系统智能化和数字化的发展趋势,电子元器件的用量越来越大,电子元器件的质量对整机和系统的性能和可靠性起着越来越大的作用。如何保证电子元器件的质量,进而保证整机和系统的性能和可靠性成为一个越来越尖锐的问题摆在整机企业(特别是军工整机企业)的面前。 如何解决元器件的质量问题有不同的方法,在发达国家由于有多年规范市场经济的基础和完善的法律体系及环境,再加上半导体产业的高科技术水平,因此主要依靠元器件供应商和生产商来保证元器件的质量水平。元器件产品根据其质量水平和使用要求可分为民用级、工业级、军用级、特军级、超特军级、宇航级等多个质量等级,产品按质论价。整机企业将其精力都放在整机的研发和生产上,元器件的质量由市场来保证。

STS 2100系列电子元器件测试系统

STS 2100系统是北京华峰测控技术公司自行研制开发的系列化电子元器件测试系统,本文结合该系统的总体设计思想,分析、比较探讨了各类小型智能化电子元器件测试系统的特点,并对测试系统如何适合我国国情的问题提出了看法。