夯实国内 开拓海外 发展新产品、新应用——访北京华峰测控技术股份有限公司副总经理,AccoTEST事业部总经理,徐捷爽先生

北京华峰测控技术股份有限公司(以下简称华峰测控)成立于1993年,是一家专门从事集成电路测试机研发、生产和销售的公司。2004年进入半导体生产测试机市场,迄今为止,其旗下产品AccoTEST模拟IC测试机的销售已达2000台。日前,本刊编辑专访了华峰测控副总经理、AccoTEST事业部总经理徐捷爽先生。本刊编辑:徐总你好,时隔4-5年,这是我们杂志第二次对你进行专访了。听说你们产品销售已达到2000台,请给我们简单说明一下这几年的公司发展情况?

基于栅极限流的SiC MOSFET栅电荷测试方案

SiC MOSFET是一种高性能的电力电子器件,其开通/关断过程中积累/释放的栅电荷Q_(g)对MOSFET的开关速度、功率损耗等参数有重要影响。通常采用在栅极设置恒流源驱动,对时间进行积分的方法来测量Q_(g)。为了降低驱动复杂度,提高测试结果精度和可视性,基于双脉冲测试平台的感性负载回路,改用耗尽型MOSFET限制栅极电流实现恒流充电,对SiC MOSFET进行测试。同时利用反馈电阻将较小的栅极电流信号转换为较大的电压信号。实验结果表明:在误差允许范围(±5%)内该测试方案能较为准确地测得SiC MOSFET的Q_(g),测试结果符合器件规格书曲线。

人工智能应用于教育的风险及其应对

在分析人工智能对教育益处的基础上,探讨人工智能应用于教育的可能性风险,包括“教育加速”背景下人的主体地位丧失、“技术异化”视野中人工智能对人的本质力量压迫、依赖人工智能导致的人的智能下降、侵犯数据隐私所导致的伦理风险、“情智悖论”难题下的教育迷失、恶意使用人工智能引发的后果。针对这些风险提出应对之道,包括回归教育的育人本质、对人工智能要有全面深入的认识、加强对人工智能在教育中应用的监管。

MOSFET跨导测试方法和实验分析

MOSFET是一种压控型器件,可以通过调节栅源电压大小来控制漏极与源极之间的电流大小。其中,跨导(GFS)参数就是表征MOSFET的这种输入电压对输出电流的控制能力。本文在介绍了MOSFET特性和GFS含义的基础上,详细了介绍了GFS的测试方法,并通过实验的方式分析了各种方法的测试性能和影响因数。