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光致发光PL技术在硅块检测中的应用
1
作者
T.Trupke
J.Nyhus
+2 位作者
R.A.Sinton
J.W.Weber
鲁永强
《中国建设动态(阳光能源)》
2010年第3期72-74,共3页
光致发光影像PL Imaging技术应用在硅块检测方面已经开发出来,这项技术可以把掺硼铸锭硅块以高解析度,在极短时间内量测得到每一面的PL Imaging影像。这些影像按照体少子寿命(τbulk)变化进行分析,并且针对类稳态光导(QSSPC)及微波光导...
光致发光影像PL Imaging技术应用在硅块检测方面已经开发出来,这项技术可以把掺硼铸锭硅块以高解析度,在极短时间内量测得到每一面的PL Imaging影像。这些影像按照体少子寿命(τbulk)变化进行分析,并且针对类稳态光导(QSSPC)及微波光导量测技术(μ-PCD)进行比较,证明可以作为硅块分析工具。我们证明在辐照均匀下的量测结果不仅符合光伏产业的一个太阳(One Sun)辐照条件,当量测结果具备平均注入条件,更得到一致体少子寿命值测试结果。
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关键词
光致发光影像
硅块
体少子寿命
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职称材料
题名
光致发光PL技术在硅块检测中的应用
1
作者
T.Trupke
J.Nyhus
R.A.Sinton
J.W.Weber
鲁永强
机构
BT Imaging
REC Wafer
Sinton Instruments
北京华通特瑞公司
台北广集股份
公司
出处
《中国建设动态(阳光能源)》
2010年第3期72-74,共3页
文摘
光致发光影像PL Imaging技术应用在硅块检测方面已经开发出来,这项技术可以把掺硼铸锭硅块以高解析度,在极短时间内量测得到每一面的PL Imaging影像。这些影像按照体少子寿命(τbulk)变化进行分析,并且针对类稳态光导(QSSPC)及微波光导量测技术(μ-PCD)进行比较,证明可以作为硅块分析工具。我们证明在辐照均匀下的量测结果不仅符合光伏产业的一个太阳(One Sun)辐照条件,当量测结果具备平均注入条件,更得到一致体少子寿命值测试结果。
关键词
光致发光影像
硅块
体少子寿命
Keywords
Photo luminescence imaging, Silicon bricks ,Lifetime
分类号
TN304.12 [电子电信—物理电子学]
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作者
出处
发文年
被引量
操作
1
光致发光PL技术在硅块检测中的应用
T.Trupke
J.Nyhus
R.A.Sinton
J.W.Weber
鲁永强
《中国建设动态(阳光能源)》
2010
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