黑色微弧氧化膜的制备及其表征

利用二次微弧氧化法,通过在磷酸盐体系的电解液中添加柠檬酸铁,在AZ40M镁合金基底表面成功制备了黑色的微弧氧化膜层。并利用扫描电子显微镜(SEM)、能谱仪(EDS)、X射线衍射(XRD)和X射线光电子能谱(XPS)分别对黑色膜层的形貌和成分组成进行了表征,探讨了黑色微弧氧化膜层的形成过程及机理。结果显示,黑色膜层的主要成分为氧化镁,同时伴随着一定量的铁氧化物,包括四氧化三铁、氧化亚铁和单质铁。因此镁基底表面黑色膜层的形成可归因于柠檬酸铁中的铁离子在成膜过程中参与反应形成了黑色的四氧化三铁、氧化亚铁和单质铁混合物,并均匀地沉积在氧化膜中。

表面状态对2A12铝合金发黑氧化膜层的热循环性能影响

为了探讨前处理对2A12铝合金发黑阳极氧化及其空间服役性能的影响,通过不同机加粗糙和表面活化等前处理对发黑阳极氧化形貌和热循环性能的影响进行了研究,并采用扫描电镜等对前处理、氧化和热循环后的形貌进行了分析。结果表明:随着表面粗糙度的增加,铝合金发黑膜层热循环性能变差,裂纹密度和宽度增加;而通过浸泡和溅射处理,由于表面微区域腐蚀,导致生成的氧化膜层与基体之间结合力下降,从而引起在热循环过程中表面膜层的脱落,并结合微观形貌以及能谱测试结果探讨了不同表面粗糙度和活化对膜层的影响机理。

结温对双界面法测量功率模组R_(thJC)的影响

JEDEC 51-14标准的瞬态双界面法(TDIM)是指让半导体器件通过相等的加热电流,分别测量器件散热面通过两种不同导热介质与散热器相接触时的瞬态热阻抗曲线,利用两条瞬态热阻抗曲线的分离点来确定待测器件的结-壳热阻R。但在相等的加热电流测试条件下,有的功率器件会出现热阻抗曲线提前分离的现象。此处首先列举了绝缘栅双极型晶体管(IGBT)功率模组在不同结温下的测试数据,定性地介绍该现象。其次,从材料热力学的角度对该现象的物理机制进行了理论分析。最后,基于自研IGBT功率模组进行定量计算及实测验证,对比结果表明所提热力学改进模型与实测结果吻合。