基于遗传算法的功能覆盖率收敛技术

针对集成电路验证向量生成与功能覆盖率收敛的问题,提出一种基于遗传算法的功能覆盖率收敛技术.通过计算分析遗传算法中遗传算子的概率分布函数,获得由比例选择算子、均匀交叉算子以及二元变异算子组成的遗传算法,得到覆盖率广、重复性低的验证向量,在最短仿真时间内达到预先设定的功能覆盖率.实验采用基于Turbo芯片的图像处理硬件加速器作为验证模型,将遗传算法嵌入到以System Verilog语言为基础的层次化验证平台中.结果表明,与全随机向量验证相比,该算法有效增加了功能覆盖率并使仿真时间缩短了25%左右,实现功能覆盖率的快速收敛,提高了验证效率.