Al_2O_3或TiO_2掺杂的ScSZ固体电解质纳米晶薄膜的制备及表征

利用溶胶 凝胶旋涂法 ,在单晶硅基片 (10 0 )上分别制得了厚度约为 0 31μm的(Al2 O3) 0 .10 (Sc2 O3) 0 .0 8(ZrO2 ) 0 .82 和 0 36 μm的 (Sc2 O3) 0 .12 5(TiO2 ) 0 .175(ZrO2 ) 0 .70 固体电解质纳米晶薄膜。烧结实验结果表明 ,两种薄膜均在 6 50℃以上开始晶化 ,温度越高 ,晶化越完全 ,在 80 0℃可完全晶化 ;所得纳米晶颗粒呈纯的萤石结构立方相 ;铝和钛掺杂的纳米晶颗粒的平均大小分别为4 7和 51nm。铝掺杂的薄膜非常均匀致密 ,然而 。

单晶X射线衍射技术的进展评述

本文评述了十余年来单晶X射线衍射技术的进展。介绍高亮度X射线光源的获得,能够大幅度提高衍射数据收集速度和灵敏度的二维电子面探测器成像板IP和电荷耦合器件CCD的工作原理和应用等,并通过实例说明这些技术上的重大进步正在极大地推动人们对物质微观结构的深入认识并带来巨大的成果。