集成电路测试系统延迟线性能分析

延迟线是集成电路测试系统的关键部件。本文介绍了模拟式延迟线的性能和原理 ,分析了模拟式延迟线由于干扰 ,温漂等因素的影响 ,定时分辨率很高但定时精度难以提高的情况。最后指出延迟线的集成是大势所趋 ,立足CMOS工艺的数字延迟线必将成为未来测试系统集成化的发展方向。