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SRAM型FPGA单粒子辐照试验系统技术研究
被引量:
5
1
作者
孙雷
段哲民
+1 位作者
刘增荣
陈雷
《计算机工程与应用》
CSCD
2014年第1期49-52,共4页
单粒子辐射效应严重制约FPGA的空间应用,为提高FPGA在辐射环境中的可靠性,深入研究抗辐射加固FPGA单粒子效应评估方法,设计优化单粒子效应评估方案,开发相应的评估系统,提出基于SRAM时序修正的码流存储比较技术和基于SelectMAP端口配置...
单粒子辐射效应严重制约FPGA的空间应用,为提高FPGA在辐射环境中的可靠性,深入研究抗辐射加固FPGA单粒子效应评估方法,设计优化单粒子效应评估方案,开发相应的评估系统,提出基于SRAM时序修正的码流存储比较技术和基于SelectMAP端口配置回读技术。借助国内高能量大注量率的辐照试验环境,完成FPGA单粒子翻转(SEU)、单粒子闩锁(SEL)和单粒子功能中断(SEFI)等单粒子效应的检测,试验结果表明,该方法可以科学有效地对SRAM型FPGA抗单粒子辐射性能进行评估。
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关键词
现场可编程门阵列(FPGA)
空间辐射
单粒子效应
回读
静态随机存储器(SRAM)
Field
PROGRAMMABLE
Gate
Array(FPGA)
Static
Random
Access
Memory(SRAM)
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职称材料
题名
SRAM型FPGA单粒子辐照试验系统技术研究
被引量:
5
1
作者
孙雷
段哲民
刘增荣
陈雷
机构
西北工业大学
电子
信息学院
北京微电子技术研究所fpga部
出处
《计算机工程与应用》
CSCD
2014年第1期49-52,共4页
基金
"十一五"国家部委预研项目
文摘
单粒子辐射效应严重制约FPGA的空间应用,为提高FPGA在辐射环境中的可靠性,深入研究抗辐射加固FPGA单粒子效应评估方法,设计优化单粒子效应评估方案,开发相应的评估系统,提出基于SRAM时序修正的码流存储比较技术和基于SelectMAP端口配置回读技术。借助国内高能量大注量率的辐照试验环境,完成FPGA单粒子翻转(SEU)、单粒子闩锁(SEL)和单粒子功能中断(SEFI)等单粒子效应的检测,试验结果表明,该方法可以科学有效地对SRAM型FPGA抗单粒子辐射性能进行评估。
关键词
现场可编程门阵列(FPGA)
空间辐射
单粒子效应
回读
静态随机存储器(SRAM)
Field
PROGRAMMABLE
Gate
Array(FPGA)
Static
Random
Access
Memory(SRAM)
Keywords
SelectMAP
space radiation
single event effects
SelectMAP
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分类号
TP271.5 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
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1
SRAM型FPGA单粒子辐照试验系统技术研究
孙雷
段哲民
刘增荣
陈雷
《计算机工程与应用》
CSCD
2014
5
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职称材料
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