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题名高速ADC中CMOS比较器的改进
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作者
李彦旭
徐立新
崔占忠
林蔚
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机构
北京理工大学机电工程学院八五教研室
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出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2005年第4期68-70,64,共4页
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文摘
在对用于高速 A D C 的 C M O S 传统比较器分析的基础上,为进一步减小其失调电压,本文给出了补偿电路的结构框图,并进行了理论上的分析和实验仿真。
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关键词
ADC
失调电压
CMOS比较器
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分类号
TP331.2
[自动化与计算机技术—计算机系统结构]
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题名可自校正失调电压的BiCMOS锁存比较器设计
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作者
李彦旭
崔占忠
徐立新
陈曦
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机构
北京理工大学机电工程学院八五教研室
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出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2005年第6期67-69,共3页
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文摘
在对传统CMOS锁存比较器分析的基础上,设计了一种可自校正失调电压的BiCMOS锁存比较器,它既具有双极型电路快速、输入失调电压低和大电流驱动能力,又具备CMOS电路低功耗和高集成度的特性,因而它们特别适用于高速缓冲数字信息系统和其它便携式数字设备。
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关键词
双极互补金属氧化物半导体
输入失调电压
锁存比较器
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Keywords
BiCMOS
input offset voltage
comparator
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分类号
TN43
[电子电信—微电子学与固体电子学]
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