在通用自动测试仪上实现SPI存储器测试的方法研究

近年SPI存储器已广泛用于各类电子产品和工业测控系统中，但SPI属于串行接口，难以使用算法图形产生器自动产生地址，因此难以在通用自动测试仪上进行测试。本文分析了SPI存储器的结构特点和测试难点，提出了一种基于并行转串行逻辑的SPI存储器算法图形自动产生的方法，并以SPIEEPROM芯片AT25HP512为例，实现了测试程序开发。实验证实，该方法可以克服SPI存储器地址算法自动产生的困难，对该类芯片测试具有通用性。

在通用自动测试仪上实现SPI存储器测试的方法研究

近年SPI存储器已广泛用于各类电子产品和工业测控系统中,但SPI属于串行接口,难以使用算法图形产生器自动产生地址,因此难以在通用自动测试仪上进行测试。本文分析了SPI存储器的结构特点和测试难点,提出了一种基于并行转串行逻辑的SPI存储器算法图形自动产生的方法,并以SPI EEPROM芯片AT25HP512为例,实现了测试程序开发。实验证实,该方法可以克服SPI存储器地址算法自动产生的困难,对该类芯片测试具有通用性。

基于自动测试系统的测试数据格式标准化研究

为克服因不同自动测试系统生成测试数据不统一,所造成测试效率低下和成本浪费的问题。根据ATE统一测试数据标准格式STDF文件的规范,分析其内部各个模块的处理方法,使用LabWindows/CVI软件环境.设计了一种转换程序,通过算法完成了二进制文件STDF与文本文件的双向转换,通过对比转换生成的文本和标准ATD文本.验证了程序转换结果的正确性,最后将转换程序植入国产自动测试系统BC3192V50,从而实现测试数据标准化。测试实验结果表明,该算法能够高效的实现双向转换,规范了测试数据的结构.提升了测试数据的可分析性。

基于自动测试系统的ADC测试开发

A/D转换器(ADC)是混合信号系统中的重要模块,是电子器件中的关键器件。随着器件时钟频率的不断提高,如何高效、准确地测试ADC的动态参数和静态参数是当今ADC测试研究的重点。本文阐述了ADC的静态和动态参数测试,并在自动测试系统的ADC测试过程中,深入分析了ADC测试环境的配置,从而实现了一种低成本、高可靠性的ADC计算机辅助测试方法,并在BC3192V50测试系统上得到了验证。

一种基于自动测试设备的可编程逻辑器件的编程开发方法

本文讨论了具有边界扫描接口的可编程逻辑器件在线编程模型建立的途径,并以BC3192V50高速数模混合测试系统为平台,介绍了ALTERA公司的EPM7512在线编程以及测试过程。本文论述的在线模型建立方法适用于一切通过边界扫描链进行配置的大规模集成电路,为可配置集成电路的测试提供了前提条件。该方法经BC3192集成电路测试系统使用结果表明是有效的。

圆片测试中的熔丝修调方法研究

熔丝修调因工艺简单、速度快,被广泛用于混合信号电路芯片的圆片测试中,但其类型多样,控制电路繁琐,修调受电阻变化的影响且不可恢复,因此精度不易控制,测试效率低。针对此问题,提出一种对串行、并行结构通用的测试系统修调控制电路,展示了减小测试误差的计算方法,最后,改进了传统测试流程,提出了以合并测试步骤及并行测试为基础的简化方法。测试结果表明,该方法操作性强,能够有效提高测试效率和准确率。

SDRAM测试方法的研究和实现

SDRAM与其它存储器相比,具有速度快、容量大、价格低、集成度高的优势;然而,SDRAM的测试却是一大难题。针对国内用户测试该类集成电路困难的现状,本文旨在研究SDRAM及相关测试理论,并以HY57V281620为例,实现了在国产ATE上SDRAM测试程序的开发。通过验证,该方法可以很好的解决长期以来SDRAM入库测试难的问题。

DSP功能测试方法研究

随着数字信号处理器(DSP)性能和集成度迅速地提高,DSP产品得到了日趋广泛的应用。文章首先介绍了DSP的基本结构,其次详细分析了DSP功能测试的方法,特别是研究了由测试系统模拟外部程序存储器加载程序的并行测试算法,最后讨论了为使用相同指令集的DSP自动生成测试图形的算法。上述算法具有直观、编程灵活、开发周期短的特点。

内存测试方法的研究和实现

本文主要讲述内存芯片的测试方法,并在国产集成电路测试系统上完成测试。通过硬件算法图形产生器模块弥补自动测试系统数字通道图形深度不足的问题,该模块具有24位独立地址输出,具有地址装载、保持、加一和减一等功能。采用新March算法,增加多种故障模型,优化编写图形向量,减少其图形深度,提高其故障覆盖率。不仅能加快内存芯片测试的速率,还能保证功能测试的故障覆盖率,对我国内存芯片的测试产生积极的影响。

电容式触摸屏感应芯片测试方法研究

电容式触摸屏感应芯片由于具备接触感应特性,难以用自动测试系统直接测试,为此,设计了扩展电路与自动测试系统相结合的方法实现此类芯片测试。通过切换偏置电阻实现了芯片电容敏感度、感应频率及偏置电流的设置,并通过电容继电器矩阵控制调节触点电容,引起芯片输出波形的频率变化,用以高速计数器为核心的频率测量单元测试输出通道频率,从而实现了较完整的直流、交流和功能项的测试。测试实验提示,该方法稳定性好,易于实现模块化,适于并行测试,测试效率较高。

基于Credence Gemini500的内嵌式AD转换器测试方法研究

本文中应用Credence公司的Gemini500测试系统对某一SoC芯片内嵌模数转换器进行了测试。根据芯片功能分析和封装形式,对测试板进行了优化设计。根据内嵌式ADC的时序特点进行了测试向量的设计。

CPLD测试方法研究

CPLD是集成电路中最常用的器件之一,CPLD的工艺不断改进,使得它的集成度和工作速度也在不断增加。因此,对于CPLD的测试变得越来越重要。本文在详细研究CPLD内部结构的基础上,基于"分治法"的基本思路对CPLD的测试理论和方法做了探索性研究,并且建立了测试模型以针对实际的CPLD器件测试。

TMS320F28XX系列DSP测试方法研究与实现

本项目是基于美国TI公司TMS320F28xx系列DSP,进行的测试方法研究与实现。测试方法用于北京自动测试技术研究所自主研发的国产自测试设备(ATE)BC3192V50大规模集成电路测试系统。测试的原理是,通过TMS320F28xx系列DSP配备的SCI(Serial Communication Interface)串行通信接口,以此作为桥梁完成ATE与芯片之间的通信。同时,实现自动测试设备与测试系统的测试向量的匹配。而后,完成TMS320F28xx系列DSP的功能测试以及直流参数测试。

基于测试系统的测试向量工具设计研究

测试向量工具作为集成电路测试系统软件的重要组成部分,其性能直接影响整个自动测试系统的工作效率。通过分析确定了测试向量工具的功能结构,研究了开发测试向量工具的关键技术,并重点对比了使用Table和ReportX控件设计向量工具的方法。经过分析,利用ReportX组件完成了测试向量工具的开发,并将其嵌入到国产测试系统BC3192。最后在实际环境中进行了测试,并验证了测试向量工具的良好性能。通过对ActiveX Control技术的应用,可以使虚拟仪器开发变得更为完善和强大。

基于ATE的MCU芯片并行测试技术研究

讨论了MCU芯片测试需求及难点,针对测试过程中可能会遇到的接口板通用性和信号完整性问题给出解决方案。以FPGA为主控器件设计继电器矩阵控制电路,并通过阻抗匹配和等延时设计使多通道信号达到可靠性要求。解决了测试系统接口板的单一性、专用性问题,缩短了开发周期。通过自动测试系统验证,MCU芯片并行测试实验中功能匹配测试、频率测试和参数测试可独立使用测试资源,实现了完全并行测试,与传统串行测试方法相比节约了测试时间,提高了芯片测试效率。

ARM Cortex-M3微处理器测试方法研究与实现

作为32位RISC微处理器主流芯片,ARM芯片得到长足发展和广泛应用。因而,ARM芯片的测试需求更加强劲的同时,测试工作量在加大,测试复杂度也在增加。本文给出了基于ARMCortex-M3的微处理器测试方法,该方法也可用于类似结构的微处理器测试。

AD转换器全码测试的研究与实现

本文主要探讨AD转换器全码测试的原理及实现方法,并说明了如何基于国产JC-3165测试系统完成对AD转换器的静态参数的测试。AD转换器全码测试模块包含高精度电压源、高精度波形产生器、ADC输出码存储器3大部分。高精度电压源提供AD转换器的电压基准;高精度波形产生器提供AD转换器的模拟交流或直流输入电压;存储器用于存储AD转换器的数字输出数据;最后让测试系统中的图形控制器和定时产生器与全码测试模块同步工作,同时存储输出码;分析输出码即可得出DNL、INL等参数。

基于SWOT分析的北京市属科研院所与中央在京科研单位合作对策研究

分析了北京市属科研院所与中央在京科研单位合作的优势、劣势、机会和挑战,从加强顶层设计、建立健全合作机制、抓住京津冀协同发展契机、完善合作开展成果转化的机制等方面提出了北京市属科研院所与中央在京单位的合作对策。

液晶屏显示驱动芯片测试技术研究

液晶屏显示驱动芯片广泛应用于数码产品领域,近年来与之配套的驱动芯片的需求量也大幅度增加。驱动芯片测试贯穿在芯片的设计、制造与应用的全过程中,是保证芯片品质的重要手段。由于驱动芯片不同于一般的通用芯片,通用测试手段无法用于该类芯片的测试,目前该技术主要掌握在国外企业手中,因此在驱动芯片设计与制造的产业链中,测试技术已成为制约发展的一个瓶颈。针对此背景,本文提出一套高效、实用测试方法,采用多通道与高压模拟通道同步测试技术、色阶测试技术、特殊封装的适应性技术和ATE等技术,可以实现减少测试费用、提高驱动芯片测试吞吐量的同时也能保证客户对芯片质量的严格要求。

IEEE 1149.4标准实验测试结构设计和扩展研究

本文采用复杂可编程逻辑器件(CPLD)和分立器件,设计实现了IEEE 1149.4混合信号边界扫描标准实验测试结构。为了提高互连测试的故障诊断能力,文中对模拟边界模块(ABM)开关结构进行了一些修改。针对ABM单元的这些修改允许测试者可以将模拟输入信号与多个电压进行比较。当测试者在简单互连或扩展互连中遇到桥接故障,扩展的ABM开关结构使得故障更容易探测。