蔗秆表皮层的SEM-EDAX研究

用SEM EDAX法研究蔗秆表皮层的超微结构及元素组成。结果表明 ,在实验条件下 ,蔗秆表皮层的外表面由C、O、Mg、Al、Si、Cl6种元素组成 ,Si的含量为 30 .464% ;颗粒状物的Si含量为 53 .833 %。蔗秆表皮层径切面中含C、O、Mg、Al、Si、K、Ca 7种元素 ,自外向里各种元素的含量呈规律性变化。表皮层是Si等矿质元素高度密集、超微结构非常复杂的多层结构 ;表皮层中的Si绝大部分在碱法制浆的低温蒸煮阶段就被溶解转移到黑液中 ,残留物几乎为纯C组成。蔗秆表皮层的超微结构、Si等元素的存在状态及脱除机理有待进一步研究。

羟基自由基的测定及其对过氧化氢漂白的影响

用化学荧光法研究四种填料对H2 O2 漂白过程中羟基自由基 (·OH)的行为及对H2 O2 漂白的效果的影响。结果表明 ,用邻苯二甲酰肼 (即PtH)作为羟基自由基的稳定剂是可行的。反应时间为 40min时羟基自由基的相对浓度为最高 ,各种填料对H2 O2 的稳定性及漂白效果等的影响不同。