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加速电压及线系对钨在SiC/W扩散偶中分布分析的影响
被引量:
1
1
作者
尚俊玲
吴利翔
《理化检验(物理分册)》
CAS
2021年第4期34-38,共5页
采用扫描电镜(SEM)、能谱仪(EDS)分别在10kV和20kV加速电压下,对SiC/W扩散偶中钨元素的面分布和线分布进行了分析。结果表明:在10kV加速电压下,钨元素只能激发出M线系,钨元素的M线系和硅元素的K线系发生重叠,从而导致材料中钨元素和硅...
采用扫描电镜(SEM)、能谱仪(EDS)分别在10kV和20kV加速电压下,对SiC/W扩散偶中钨元素的面分布和线分布进行了分析。结果表明:在10kV加速电压下,钨元素只能激发出M线系,钨元素的M线系和硅元素的K线系发生重叠,从而导致材料中钨元素和硅元素在面分布和线分布下无法区分。将加速电压从10kV提高至20kV,通过激发钨元素的L线系,从而实现了钨元素的分布表征,使钨元素分布趋近于真实分布情况。能谱数据再处理也进一步验证了10kV加速电压下钨元素分布紊乱是由钨元素的M线系和硅元素的K线系重叠引起的。
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关键词
扫描电镜
能谱仪
加速电压
谱线
元素分布
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职称材料
题名
加速电压及线系对钨在SiC/W扩散偶中分布分析的影响
被引量:
1
1
作者
尚俊玲
吴利翔
机构
华南理工大学材料科学与工程学院实验中心
广东工业
大学
机电
工程
学院
出处
《理化检验(物理分册)》
CAS
2021年第4期34-38,共5页
文摘
采用扫描电镜(SEM)、能谱仪(EDS)分别在10kV和20kV加速电压下,对SiC/W扩散偶中钨元素的面分布和线分布进行了分析。结果表明:在10kV加速电压下,钨元素只能激发出M线系,钨元素的M线系和硅元素的K线系发生重叠,从而导致材料中钨元素和硅元素在面分布和线分布下无法区分。将加速电压从10kV提高至20kV,通过激发钨元素的L线系,从而实现了钨元素的分布表征,使钨元素分布趋近于真实分布情况。能谱数据再处理也进一步验证了10kV加速电压下钨元素分布紊乱是由钨元素的M线系和硅元素的K线系重叠引起的。
关键词
扫描电镜
能谱仪
加速电压
谱线
元素分布
Keywords
scanning electron microscope
energy dispersive spectrometer
accelerating voltage
spectrum series
element distribution
分类号
TB79 [一般工业技术—真空技术]
TB333 [一般工业技术—材料科学与工程]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
加速电压及线系对钨在SiC/W扩散偶中分布分析的影响
尚俊玲
吴利翔
《理化检验(物理分册)》
CAS
2021
1
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职称材料
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参考文献
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