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双极模拟集成电路版图验证程序的开发及应用
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作者 郑重 唐颖炯 赵文遐 《微电子技术》 1998年第2期34-36,共3页
在引进CADENCE软件的基础上,开发适用于双极模拟集成电路的版图验证程序。对版图进行了全面的几何设计规则的检查(DRC),并将版图和线路图进行比较(LVS),以确保版图设计的正确性。
关键词 双极 模拟集成电路 版图 验证程序 提取 识别层
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基于神经网络的集成电路生产过程建模与优化 被引量:1
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作者 王向东 陈咏梅 +1 位作者 王守觉 石林初 《自动化学报》 EI CSCD 北大核心 2001年第3期289-295,共7页
以提高半导体生产线的成品率为目标 ,利用神经网络对半导体芯片生产过程进行了建模和优化 .首先使用神经网络方法建立模型 ,确定生产线上工艺参数和成品率之间的映射关系 ,构造多维映射函数曲面 ;随后对多维映射函数曲面进行搜索 ,搜索... 以提高半导体生产线的成品率为目标 ,利用神经网络对半导体芯片生产过程进行了建模和优化 .首先使用神经网络方法建立模型 ,确定生产线上工艺参数和成品率之间的映射关系 ,构造多维映射函数曲面 ;随后对多维映射函数曲面进行搜索 ,搜索成品率最高的最优点 ,据此确定工艺参数的规范值 ;最后 ,根据优化后的工艺参数规范进行实际生产 .采用这种优化建议 ,半导体生产线的平均成品率由 51 .7%提高到了 57.5% . 展开更多
关键词 集成电路 生产过程 建模 优化 神经网络 半导体芯片
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基于神经网络方法的半导体生产工艺优化 被引量:1
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作者 王向东 陈咏梅 +1 位作者 王守觉 石林初 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第2期192-196,共5页
以提高生产成品率为目标,利用神经网络的非线性和容错性,对半导体芯片生产过程进行了分析和优化,具体内容如下:(1)使用神经网络方法建立模型,确定生产线上工艺参数和成品率之间的映射关系,构造以工艺参数为输入,成品率为输出... 以提高生产成品率为目标,利用神经网络的非线性和容错性,对半导体芯片生产过程进行了分析和优化,具体内容如下:(1)使用神经网络方法建立模型,确定生产线上工艺参数和成品率之间的映射关系,构造以工艺参数为输入,成品率为输出的多维函数曲面.(2)对上述多维函数曲面进行搜索,搜索成品率最高的最优点,以该最优点的工艺参数值为依据确定工艺参数的规范值.(3)对工艺参数规范进行优化,在实际生产工艺中反复实践,直至达到提高成品率的目的.生产实践证明,神经网络的分析结果是合理的.根据神经网络分析提出的优化建议,有效地提高了工序能力指数和产品成品率的一致性。 展开更多
关键词 半导体生产 工艺优化 神经网络
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发射极电流集边效应理论的SPICE模拟验证 被引量:6
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作者 石林初 杜行尧 +2 位作者 吕文生 吴毅 吴敏 《Journal of Semiconductors》 EI CAS CSCD 北大核心 2000年第11期1139-1144,共6页
发射极电流集边效应是由晶体管基极电阻的自偏压引起的 ,描述该效应的微分方程早已建立 ,这里设计了一种用 SPICE验证精确解 /近似解的新方法 .结果表明 :近似解是在 V( x) VT 的前提条件下求得的 ,仅在弱注入区和中等注入区适用 ,不... 发射极电流集边效应是由晶体管基极电阻的自偏压引起的 ,描述该效应的微分方程早已建立 ,这里设计了一种用 SPICE验证精确解 /近似解的新方法 .结果表明 :近似解是在 V( x) VT 的前提条件下求得的 ,仅在弱注入区和中等注入区适用 ,不能给出在强注入区和极强注入区的归一化电位和电流密度的分布函数 ;相反 ,基于精确解的理论却能给出从弱注入区到极强注入区的归一化电位和电流密度的分布函数 ,且与用 SPICE模拟得到的结果吻合 .结论是 :从整体来看 ,精确解的理论比近似解的理论描述该效应要稍好一些 ,因为前者的适用范围比后者宽 .应当强调指出 。 展开更多
关键词 发射极电流 集边效应 SPICE验证 晶体管
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12位模/数转换器AD574在测试仪中的应用 被引量:12
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作者 王鹏飞 崔文兵 陈钧 《微电子技术》 2000年第6期58-62,共5页
本文介绍了集成电路测试仪中AD574的使用方法,该测试仪可精确测 量1mV的电压,以此方法可省去程序中很多计算过程。
关键词 模/数转换器 测试仪 单片机 AD574 集成电路
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模拟集成电路中的保护电路分析 被引量:2
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作者 陈惠新 《微电子技术》 1999年第5期32-37,共6页
本文主要介绍了模拟集成电路中各种保护电路的工作原理,并对常见集成电路中的保护电路作了详细分析。
关键词 集成电路 保护电路 功率
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