石英晶体老化率及真空退火应用的探讨

作为最主要的可靠性之一,石英晶体的老化率是一项非常重要的参数,作为频率元件,老化率直接体现着石英晶体的稳定性。而石英晶体振荡器的老化是一个影响因素众多的系统问题,如何稳定并提高老化率指标是行业内各厂家生产中的难题。本文主要讨论关于老化的改善手段,并且主要介绍关于高真空退火对老化率影响的试验。

石英晶体与蓝牙技术的配合方案

无线系统对晶体的要求很高,本文以蓝牙芯片为例探讨石英晶体在开发与应用时的设计方法,以获得最适宜的匹配方案。

石英晶体振荡器温频特性与其石英晶片的关系

通过对普通晶体振荡器温度特性的研究,分析晶体振荡器温度频率特性与其的石英晶片的温频之间的关系,对测得的温频数据进行MINITAB分析,发现存在着规律及数学关系。

低噪声高稳定100M恒温振荡器的设计与实现

为设计一款低相位噪声、高稳定度的恒温晶振,该文对振荡电路和控温槽进行了研究。最终采用串联谐振模式电路配以高Q值晶体完成了振荡模块设计,100M晶振近端噪声可达-113dBc@10Hz、-168dBc@1kHz。控温槽选用双恒温槽结构。通过试验发现可以将单槽0.05的控温系数提高到0.01以内,极大地提高了晶振稳定性。

一种基于通孔技术的新型石英音叉振子

石英具有很高的品质因数,因此用石英加工的频率元件也具有极高的稳定性,能大大提高系统的时间精度。32.768 KHz的表晶利用其压电效应产生精准可靠的时间基准,随着石英频率元件领域对半导体光刻技术的引入,适用于表贴型小型化表晶的音叉振子的研究正不断深入。介绍了音叉的基本工作原理及阻抗改进的凹槽技术,提出一种以通孔导通正反面槽电极的新型石英音叉振子方案,极大的缩短供电线路,减少电流流通过程中的电能损耗,提升音叉振子的低功耗性能,同时提高音叉结构的对称,在一定程度上提升表晶的性能稳定性。

中低频石英水晶片的外型加工探讨

1、引言 随着微电子学的发展以及集成电路的广泛应用,特别是当今便携式消费电子产品和表面安装技术的兴起,对石英晶体谐振器（以下简称晶体）的微型化的要求也愈加迫切。由于历史的原因,生产晶体的外壳等原材料还控制在日本企业手中,现阶段中国各晶体制造企业的竞争主要表现为水晶片制造工艺水平的竞争。

基于PLC实现的自动化电气控制应用探析

随着信息技术的不断发展,工业生产中逐渐引入信息化技术,PLC 技术作为其中之一,将其应用在自动化电气控制中,不仅可 以提升实际控制效果,还能提升实际生产水平。基于此,本文就 PLC 技术在自动化电气控制中的应用展开详细分析,希望能对自动化电气 控制带来一定帮助。

离子蚀刻技术下石英晶振的频率微调的实现分析

近年来,随着机器的小型化发展,石英晶振生产企业也更加关注石英晶振精度的提升。而在石英晶振生产过程中,频率微调是影响石英晶振精度的重要因素。文章结合石英晶振频率微调机理及离子蚀刻技术特性,研究了离子蚀刻的石英晶振频率微调技术,重点解决了离子蚀刻后数秒内频率偏移问题,提出了具体的处理方法,以期为石英晶振精度的提升提供可行性方案。

石英晶振频率测试系统研究

石英晶振就是通过石英材料加工完成的石英谐振器,具有产生频率的作用,由于其各项特征,通常被用于电子产品生产当中。该文介绍了一种结合单片机、直接数字频率合成器(DDS)和增益鉴相器的简单石英晶振共振频率检测系统,利用晶振阻抗随激励信号频率而变化的特性,在100msw内测得其共振频率,控制成本的同时保证了一定的测量精度。

SMD石英晶体抗高过载性能的研究

为了研究SMD石英晶体的抗高过载能力,采用自由式霍普金森压杆对7050、6035、5032、3225、3225（一级加固）、3225（二级加固）六种型号SMD石英晶体进行高过载环境下的动态加载测试。结果表明,在高过载条件下,SMD石英晶体的抗高过载性能随尺寸减小而不断提高,并且产品经历高过载环境后电气参数的不良率逐步降低。未经过加固处理的各型号SMD石英晶体（7050、6035、5032、3225）经过高过载试验（50 000~80 000 g）后,电气参数均出现超差,不能满足武器系统的要求。经过加固处理的SMD石英晶体样品（3225一级加固、3225二级加固）经过高过载试验可以正常工作。

精益生产下的某公司生产系统优化分析

精益生产是一种新型管理模式,通过采用该种管理模式不仅能够有效减少企业投入成本,而且还能显著提升企业生产效率。为加强精益生产的应用效果及促进相关企业健康发展,文章通过实际案例,对精益生产系统优化进行分析,以期可以为相关人员开展工作提供可靠依据。

特殊加固SMD晶振的抗高过载性能研究

为了研究经过特殊加固的SMD石英晶振的抗高过载能力,选取同批次15只SMD石英晶振样品,利用自由式霍普金森压杆对样品进行高过载环境下的动态加载测试。结果表明,特殊加固处理的SMD石英晶振样品经过高过载试验可以正常工作,电气参数变化满足正常使用要求,频率变化率、阻抗变化分别在±5×10–6,±5Ω以内。