基于溶液ZnS量子点的肖特基结日盲紫外探测器

一种基于ZnS量子点的肖特基结日盲紫外探测器,通过溶液工艺制备而成。其中ZnS量子点为立方闪锌矿结构,平均直径2.2 nm,禁带宽度约4.53 eV(立方闪锌矿ZnS体材料为3.68 eV)。器件对日盲波段有较好的光电响应特性,在15 V偏压下对于光功率密度0.1 mW·cm^(-2)的254 nm紫外光的开关比为9.2,响应度1.60 mA/W,探测率5.5×10~9 cm Hz^(1/2) W^(-1)。由于器件电阻较大,响应时间约1秒。实验结果表明,基于2 nm直径ZnS量子点的光电探测器,在日盲紫外波段有很好的应用和发展潜力。

正三角型三芯光纤中等腰对称平面波的调制不稳定性分析

详细分析了正三角型三芯光纤中等腰对称平面波的调制不稳定性.等腰对称平面波即两芯中场完全相同,第三芯中场入射功率与其他两芯中不同的平面波,其存在的前提是入射光总功率(P)必须大于某最小值(P_(min)),该最小值取决于光纤的线性耦合系数和非线性系数.对一给定的总功率P≥P_(min),令一芯中的入射功率为P_1,其他两芯中入射功率均为P_2,有两种形式的场分布:一种是P_1始终大于P_2,随着P的增加,P_1越来越大,P_2越来越小,依线性稳定性分析方法,该场分布对应的增益谱主要特征与双芯光纤非对称平面波的增益谱相似;另一种是随着P的增加,P_1越来越小,P_2越来越大,使用同样的分析方法,发现该场分布下增益谱与双芯光纤非对称平面波增益谱截然不同,其显著特征是无扰动下,在正常和反常色散区域均可产生不稳定性增益,且在正常色散区域,零扰动频率对应的增益最强;另一方面,耦合系数色散对增益谱的影响在正常和反常色散区域都非常弱,这与其在双芯光纤中的影响截然不同.该结果对基于多芯光纤的模分复用系统非线性效应的研究具有一定的指导意义.

基于矢量光束偏振特性的薄膜参数表征

传统椭偏仪表征薄膜参数时存在光斑尺寸较大、空间分辨率较低且基底透明时易受背面反射光干扰等问题。针对这些问题,提出采用高数值孔径显微物镜聚焦线偏振光的方法,以形成矢量光束照明薄膜。紧聚焦光束由不同角度入射光线组成,受到薄膜反射系数的影响,光束反射时形成结构化图案,且图案细节与薄膜参数密切相关,通过对反射光束进行成像即可反演薄膜参数。基于电磁理论数值模拟了薄膜不同参数对反射光场的影响,并进行了实验验证。结果表明,反射光场对薄膜参数的变化较为敏感,硅表面二氧化硅薄膜厚度的反演误差低于2 nm,重复测量误差低于0.3 nm。该方法得到的光斑尺寸接近衍射极限,显著提高了空间分辨率,在纳米结构表征领域的应用前景广阔。

基于边界寻找算法的高温复杂流场区域划分

在利用莫尔层析技术测量高温复杂流场关键物理参数时,流场的区域划分能够更好地确定成分,这对确保测量精度显得尤为重要。考虑到实际被测流场结构的复杂性,提出了一种自动寻找流场边界的算法对高温复杂流场进行区域划分。为验证算法的有效性和合理性,选取两类典型流场(氩弧等离子体和丙烷-空气火焰流场)进行了实验验证。结果表明,此算法可以显著提高流场区域划分的效率和精度,相关研究成果可以为结构较为复杂的流场重建问题提供一定的基础和思路。

基于莫尔测量技术的光栅常数测定方法

基于莫尔测量法,提出一种装置简单、测量精度较高的光栅常数测定方法。分别选取光栅常数为0.05mm和0.02mm的标准光栅与相应的待测光栅进行实验,获取了-1级、0级、+1级三个级次的大光强、高对比度莫尔条纹,并计算出待测光栅的光栅常数及其误差。研究结果表明,随着标准光栅和待测光栅之间夹角的增大,误差有增大的趋势。