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一种耗尽型短沟道MOS器件阈电压模型
1
作者
何野
魏同立
《固体电子学研究与进展》
CAS
1987年第2期97-103,共7页
本文研究了耗尽型MOS器件的短沟道效应,把Yau的电荷分配理论推广到耗尽型器件,并作了适当修正。提出一种简单而精确的耗尽型短沟道MOS器件阈电压分析模型,与实验数据吻合良好。该模型可以应用于这类器件及电路的CAD。
关键词
沟道
阈电压
器件
MOS
下载PDF
职称材料
题名
一种耗尽型短沟道MOS器件阈电压模型
1
作者
何野
魏同立
机构
南京工学院微电子研究中心
出处
《固体电子学研究与进展》
CAS
1987年第2期97-103,共7页
基金
中国科学院科学基金资助课题
文摘
本文研究了耗尽型MOS器件的短沟道效应,把Yau的电荷分配理论推广到耗尽型器件,并作了适当修正。提出一种简单而精确的耗尽型短沟道MOS器件阈电压分析模型,与实验数据吻合良好。该模型可以应用于这类器件及电路的CAD。
关键词
沟道
阈电压
器件
MOS
分类号
TN3 [电子电信—物理电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
一种耗尽型短沟道MOS器件阈电压模型
何野
魏同立
《固体电子学研究与进展》
CAS
1987
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