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一种耗尽型短沟道MOS器件阈电压模型
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作者 何野 魏同立 《固体电子学研究与进展》 CAS 1987年第2期97-103,共7页
本文研究了耗尽型MOS器件的短沟道效应,把Yau的电荷分配理论推广到耗尽型器件,并作了适当修正。提出一种简单而精确的耗尽型短沟道MOS器件阈电压分析模型,与实验数据吻合良好。该模型可以应用于这类器件及电路的CAD。
关键词 沟道 阈电压 器件 MOS
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