X射线线阵列探测器均匀性研究

实验测试了芬兰X-SCAN0.4f线阵列探测器在X射线扫描前后的成像均匀性。得出扫描前阵列探测器各单元的本底输出随时间的漂移规律和扫描后各单元对X射线的响应规律。结果发现阵列探测器各单元扫描前后的响应均存在不一致性。通过偏置和增益的校准虽然可以达到各单元响应的一致性,但没有真正解决各单元响应不一致的问题,这对定量计算会产生误差。用蒙特卡罗方法计算了不同厚度GOS闪烁晶体对不同能量入射光子的能量沉积效率和晶体阵列间的串扰,分析了可能引起不均匀性的原因之一的串扰问题。模拟结果给出了阵列单元间的串扰与晶体的尺寸和入射X射线的能量的定量关系,为下一步探测器结构的改进和软件的修正提供了依据。

X射线双组分质量厚度测量优化能量组合

介绍了用X射线等效能量法计算双组分物质质量厚度的方法,该方法在计算过程中采用单组分物质的等效质量衰减系数来替代双组分的等效质量衰减系数。通过射线吸收模拟实验,理论上计算了该方法的误差,结果表明在理论计算的双组分样品厚度范围内,该方法可以达到很好的精度,具备可行性。同时讨论了不同高压组合对质量厚度计算误差的影响。发现在固定一个高压的前提下,存在一个最佳低压,可以使质量厚度计算误差最小。