边界扫描结构的设计及仿真

在集成电路高速发展的今天,许多传统形式的测试技术受到越来越多的挑战。就测试技术本身而言,其作用和地位不再是集成电路生产的末端环节,而是作为一种前端环节对整个系统的设计都有着至关重要的作用,这就要求工程师在电路板设计之初就必须考虑后期的测试问题,即可测试性设计。边界扫描作为一种结构化的DFT技术,它的出现为集成电路板板级测试提供了一个更加先进和便捷的策略。剖析了支持边界扫描标准的芯片结构,并通过VHDL语言对其进行建模,完成边界扫描结构的软核设计及仿真。