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一种增强Verilog建模能力的编译预处理器
被引量:
3
1
作者
徐晨
蒋华
袁红林
《计算机工程与应用》
CSCD
北大核心
2006年第17期111-113,122,共4页
文章讨论了一种增强Verilog硬件描述语言建模能力的编译预处理器的设计问题。VerilogHDL是专用集成电路设计中应用广泛的一种硬件描述语言,它尚存在一些缺陷。编译预处理器的功能是增强数字系统设计中对模块输入输出端口阵列等参数化设...
文章讨论了一种增强Verilog硬件描述语言建模能力的编译预处理器的设计问题。VerilogHDL是专用集成电路设计中应用广泛的一种硬件描述语言,它尚存在一些缺陷。编译预处理器的功能是增强数字系统设计中对模块输入输出端口阵列等参数化设计的能力。在分析IEEEVerilog1364—2001建模特性的基础上,基于LEX和YACC设计出专门的编译预处理器,显著降低了程序规模,可以方便地嵌入其他仿真或综合工具中,增强了VerilogHDL参数化的建模特性。
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关键词
编译预处理器
参数化设计
VERILOG
LEX
YACC
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职称材料
与GaN晶格匹配的InAlN分子束外延生长及其性能
2
作者
顾俊
吴渊渊
+2 位作者
杨文献
陆书龙
罗向东
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2016年第7期532-538,共7页
采用等离子体辅助的分子束外延(MBE)方法制备了InAlN外延薄膜,探讨了InAlN材料In原子数分数和生长条件的关系,以及等效束流强度(BEP)对材料质量的影响。绘制了InAlN关于温度与In和Al BEP的生长相图,经过优化后生长了与GaN晶格匹配的InAl...
采用等离子体辅助的分子束外延(MBE)方法制备了InAlN外延薄膜,探讨了InAlN材料In原子数分数和生长条件的关系,以及等效束流强度(BEP)对材料质量的影响。绘制了InAlN关于温度与In和Al BEP的生长相图,经过优化后生长了与GaN晶格匹配的InAlN外延薄膜。使用高分辨率透射电子显微镜、X射线衍射仪、原子力显微镜和阴极荧光光谱(CL)对制备的InAlN材料进行了测试和表征。结果表明,InAlN/GaN异质界面清晰,In_(0.18)Al_(0.82)N外延材料(002)面X射线衍射峰半高宽为263 arcsec,表面粗糙度仅为0.23 nm,CL发光波长为283 nm,弯曲系数为5.2 e V,根据CL图像估算的材料位错密度约为2×108cm-2。
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关键词
分子束外延(MBE)
INALN
晶格匹配
弯曲系数
表面粗糙度
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职称材料
题名
一种增强Verilog建模能力的编译预处理器
被引量:
3
1
作者
徐晨
蒋华
袁红林
机构
南通
大学
江苏
省
asic
设计
重点
实验室
东南
大学
集成电路学院
南通
大学
电子信息学院
出处
《计算机工程与应用》
CSCD
北大核心
2006年第17期111-113,122,共4页
基金
国家863高技术研究发展计划资助项目(编号:2005AA123320)
文摘
文章讨论了一种增强Verilog硬件描述语言建模能力的编译预处理器的设计问题。VerilogHDL是专用集成电路设计中应用广泛的一种硬件描述语言,它尚存在一些缺陷。编译预处理器的功能是增强数字系统设计中对模块输入输出端口阵列等参数化设计的能力。在分析IEEEVerilog1364—2001建模特性的基础上,基于LEX和YACC设计出专门的编译预处理器,显著降低了程序规模,可以方便地嵌入其他仿真或综合工具中,增强了VerilogHDL参数化的建模特性。
关键词
编译预处理器
参数化设计
VERILOG
LEX
YACC
Keywords
preprocessor, parameterized design, Verilog, LEX, YACC
分类号
TP312 [自动化与计算机技术—计算机软件与理论]
下载PDF
职称材料
题名
与GaN晶格匹配的InAlN分子束外延生长及其性能
2
作者
顾俊
吴渊渊
杨文献
陆书龙
罗向东
机构
南通
大学
理学院
南通大学江苏asic设计重点实验室
中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所纳米器件与应用
重点
实验室
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2016年第7期532-538,共7页
基金
国家自然科学基金资助项目(61574161
61574130)
江苏省自然科学基金资助项目(BK20151455)
文摘
采用等离子体辅助的分子束外延(MBE)方法制备了InAlN外延薄膜,探讨了InAlN材料In原子数分数和生长条件的关系,以及等效束流强度(BEP)对材料质量的影响。绘制了InAlN关于温度与In和Al BEP的生长相图,经过优化后生长了与GaN晶格匹配的InAlN外延薄膜。使用高分辨率透射电子显微镜、X射线衍射仪、原子力显微镜和阴极荧光光谱(CL)对制备的InAlN材料进行了测试和表征。结果表明,InAlN/GaN异质界面清晰,In_(0.18)Al_(0.82)N外延材料(002)面X射线衍射峰半高宽为263 arcsec,表面粗糙度仅为0.23 nm,CL发光波长为283 nm,弯曲系数为5.2 e V,根据CL图像估算的材料位错密度约为2×108cm-2。
关键词
分子束外延(MBE)
INALN
晶格匹配
弯曲系数
表面粗糙度
Keywords
molecular beam epitaxy(MBE)
InAlN
lattice-matched
bending coefficient
surface roughness
分类号
TN304.26 [电子电信—物理电子学]
TN304.054 [电子电信—物理电子学]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
一种增强Verilog建模能力的编译预处理器
徐晨
蒋华
袁红林
《计算机工程与应用》
CSCD
北大核心
2006
3
下载PDF
职称材料
2
与GaN晶格匹配的InAlN分子束外延生长及其性能
顾俊
吴渊渊
杨文献
陆书龙
罗向东
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2016
0
下载PDF
职称材料
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