1
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形成前处理对提高铝箔比容的影响 |
余忠
杨邦朝
袁德明
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《电子元件与材料》
CAS
CSCD
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1998 |
5
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2
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低压铝箔腐蚀的碱洗工艺 |
王守绪
胡涛
杨邦朝
袁德明
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《电子元件与材料》
CAS
CSCD
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1997 |
2
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3
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铝阳极箔化成技术 |
胡广军
葛美英
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《电子元件与材料》
CAS
CSCD
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1999 |
7
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4
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侵蚀电流对中高压电容器铝箔孔密度和电容量的影响 |
阎康平
涂铭旌
严季新
胡广军
王建中
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《电子元件与材料》
CAS
CSCD
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1999 |
4
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5
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铝箔腐蚀液中硫酸根离子的测定 |
胡广军
严季新
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《电子元件与材料》
CAS
CSCD
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1996 |
1
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6
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Fe、Si杂质含量对电解电容器低压阳极铝箔静电容量的影响 |
沈行素
吴琦
蒋建新
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《电子元件与材料》
CAS
CSCD
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1995 |
5
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7
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阴极铝箔化学腐蚀工艺研究 |
沈行素
蒋建新
李立新
吴琦
严季新
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《电子元件与材料》
CAS
CSCD
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1994 |
5
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8
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阴极铝箔化学腐蚀工艺研究──Ⅱ.关于阴极铝箔容量衰减问题 |
沈行素
蒋建新
严季新
李立新
吴琦
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《电子元件与材料》
CAS
CSCD
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1994 |
2
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9
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铝的结晶复合阳极氧化膜Ⅰ.水合氧化膜存在下的阳极氧化膜的形成 |
沈行素
严季新
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《电子元件与材料》
CAS
CSCD
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1996 |
14
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10
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铝的结晶复合阳极氧化膜Ⅱ.热氧化膜存在下阳极氧化膜的形成 |
沈行素
严季新
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《电子元件与材料》
CAS
CSCD
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1996 |
3
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11
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化成液中的磷酸 |
胡广军
严季新
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《电子元件与材料》
CAS
CSCD
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1997 |
0 |
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12
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高精度恒液位控制电路 |
张台华
施克俭
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《电气自动化》
北大核心
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1996 |
0 |
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13
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半导体压力传感器的频率输出变换 |
张台华
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《电子技术(上海)》
北大核心
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1996 |
0 |
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