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微弱磁场测量的各向异性磁电阻传感器
1
作者
李云峰
《电子质量》
2022年第8期207-209,213,共4页
该文介绍了一种利用半导体标准工艺制作的Ni Fe薄膜AMR传感器,并着重对电阻变化率关于0磁场对称特性进行了研究。论文详细介绍了利用两次磁控溅射获得传感器的四层结构,并对其进行了在变化磁场下电阻变化率的测量,通过对比未加入barber...
该文介绍了一种利用半导体标准工艺制作的Ni Fe薄膜AMR传感器,并着重对电阻变化率关于0磁场对称特性进行了研究。论文详细介绍了利用两次磁控溅射获得传感器的四层结构,并对其进行了在变化磁场下电阻变化率的测量,通过对比未加入barber电极的对照组,由测试结果得出采用了barber电极的传感器成功改善了传感器在微弱磁场下的线性度,使其在-15-15Oe大小的磁场下的R2值为0.9976,使器件具有与集成电路芯片集成的性能。
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关键词
MEMS
薄膜
AMR效应
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职称材料
题名
微弱磁场测量的各向异性磁电阻传感器
1
作者
李云峰
机构
厦门矽恩微电子科技有限公司
出处
《电子质量》
2022年第8期207-209,213,共4页
文摘
该文介绍了一种利用半导体标准工艺制作的Ni Fe薄膜AMR传感器,并着重对电阻变化率关于0磁场对称特性进行了研究。论文详细介绍了利用两次磁控溅射获得传感器的四层结构,并对其进行了在变化磁场下电阻变化率的测量,通过对比未加入barber电极的对照组,由测试结果得出采用了barber电极的传感器成功改善了传感器在微弱磁场下的线性度,使其在-15-15Oe大小的磁场下的R2值为0.9976,使器件具有与集成电路芯片集成的性能。
关键词
MEMS
薄膜
AMR效应
Keywords
MEMS
thin film
AMR effect
分类号
TP212.9 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
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1
微弱磁场测量的各向异性磁电阻传感器
李云峰
《电子质量》
2022
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