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一种高速冲击测试仪的研制 被引量:2
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作者 赵彬 王一凡 《工业仪表与自动化装置》 2005年第2期65-66,45,共3页
该文介绍了一种基于FPGA及多片A/D转换器的新式高速冲击测试仪,可实现时间—应力、时间—位移及位移—应力等曲线的记录,在解决冲击断裂性能方面具有较高的应用价值。
关键词 冲击 FPGA VHDL A/D
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