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集成电路测试机发展简史
被引量:
1
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作者
郭瑞振
李定学
《集成电路应用》
2001年第3期18-18,46,共2页
本文介绍了集成电路测试机(IC TESTER)的发展简史,包括第一台测试机到目前的第三代测试机的主要特点,可以看出集成电路测试机的发展方向。
关键词
集成电路
测试机
PCB
下载PDF
职称材料
题名
集成电路测试机发展简史
被引量:
1
1
作者
郭瑞振
李定学
机构
台湾德律科技股份有限公司
德
律
泰上海办事处
出处
《集成电路应用》
2001年第3期18-18,46,共2页
文摘
本文介绍了集成电路测试机(IC TESTER)的发展简史,包括第一台测试机到目前的第三代测试机的主要特点,可以看出集成电路测试机的发展方向。
关键词
集成电路
测试机
PCB
分类号
TN407 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
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作者
出处
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被引量
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1
集成电路测试机发展简史
郭瑞振
李定学
《集成电路应用》
2001
1
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