期刊导航
期刊开放获取
河南省图书馆
退出
期刊文献
+
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
任意字段
题名或关键词
题名
关键词
文摘
作者
第一作者
机构
刊名
分类号
参考文献
作者简介
基金资助
栏目信息
检索
高级检索
期刊导航
共找到
1
篇文章
<
1
>
每页显示
20
50
100
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
显示方式:
文摘
详细
列表
相关度排序
被引量排序
时效性排序
绝缘衬底上的硅技术SOI发展与应用分析
被引量:
1
1
作者
宁开明
《集成电路应用》
2019年第6期17-21,共5页
SOI技术作为一种全介质隔离技术,有着许多体硅器件不可比拟的优势,如低功耗(泄漏电流小)、速度快(寄生电容小)、抗干扰强、集成密度高(隔离面积小)等特点。经过几十年的发展,SOI材料的制备技术,直接键合和智能剥离技术成为现阶段的主流...
SOI技术作为一种全介质隔离技术,有着许多体硅器件不可比拟的优势,如低功耗(泄漏电流小)、速度快(寄生电容小)、抗干扰强、集成密度高(隔离面积小)等特点。经过几十年的发展,SOI材料的制备技术,直接键合和智能剥离技术成为现阶段的主流技术。SOI元器件的特征尺寸,由1μm跨越到12 nm,得到广泛应用,涵盖射频、汽车电子、电源管理等领域。虽然由于历史原因以及SOI技术本身的一些限制,导致SOI技术没有完全超越传统体硅技术。分析SOI技术的发展历史、材料制备、技术应用、面临的挑战及未来趋势。
展开更多
关键词
智能剥离
射频SOI
FD
SOI
功率SOI
下载PDF
职称材料
题名
绝缘衬底上的硅技术SOI发展与应用分析
被引量:
1
1
作者
宁开明
机构
台积电中国有限公司
出处
《集成电路应用》
2019年第6期17-21,共5页
基金
上海市科学技术委员会集成电路研发基金(11511107100)
文摘
SOI技术作为一种全介质隔离技术,有着许多体硅器件不可比拟的优势,如低功耗(泄漏电流小)、速度快(寄生电容小)、抗干扰强、集成密度高(隔离面积小)等特点。经过几十年的发展,SOI材料的制备技术,直接键合和智能剥离技术成为现阶段的主流技术。SOI元器件的特征尺寸,由1μm跨越到12 nm,得到广泛应用,涵盖射频、汽车电子、电源管理等领域。虽然由于历史原因以及SOI技术本身的一些限制,导致SOI技术没有完全超越传统体硅技术。分析SOI技术的发展历史、材料制备、技术应用、面临的挑战及未来趋势。
关键词
智能剥离
射频SOI
FD
SOI
功率SOI
Keywords
smart-cut
RF SOI
FD SOI
Power SOI
分类号
TN405 [电子电信—微电子学与固体电子学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
绝缘衬底上的硅技术SOI发展与应用分析
宁开明
《集成电路应用》
2019
1
下载PDF
职称材料
已选择
0
条
导出题录
引用分析
参考文献
引证文献
统计分析
检索结果
已选文献
上一页
1
下一页
到第
页
确定
用户登录
登录
IP登录
使用帮助
返回顶部