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低压压印制备硅点阵结构的工艺研究
被引量:
2
1
作者
刘玉东
陶伟
+2 位作者
王时飞
李鑫
王旭迪
《真空》
CAS
2013年第4期68-71,共4页
高密度、图形规则的硅点阵结构由于其独特的光电性能具有广泛的应用前景。本文介绍了一种以低压压印结合反应离子刻蚀制备硅点阵的方法,即利用PDMS模板通过压印复制获得PMMA掩模结构,用反应离子刻蚀在硅片表面制得高度有序的硅纳米点阵...
高密度、图形规则的硅点阵结构由于其独特的光电性能具有广泛的应用前景。本文介绍了一种以低压压印结合反应离子刻蚀制备硅点阵的方法,即利用PDMS模板通过压印复制获得PMMA掩模结构,用反应离子刻蚀在硅片表面制得高度有序的硅纳米点阵结构。实验和有限元模拟结果表明,低压压印因为毛细作用下光刻胶在模板内的充分填充可以获得良好的图形复制精度和较小的残余胶厚度,因此适于大面积高密度光刻胶结构的均匀复制。
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关键词
硅点阵
纳米压印
反应离子刻蚀
有限元分析
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职称材料
题名
低压压印制备硅点阵结构的工艺研究
被引量:
2
1
作者
刘玉东
陶伟
王时飞
李鑫
王旭迪
机构
合肥工业大学机械与汽车工程学院真空与过程装备工程系
出处
《真空》
CAS
2013年第4期68-71,共4页
文摘
高密度、图形规则的硅点阵结构由于其独特的光电性能具有广泛的应用前景。本文介绍了一种以低压压印结合反应离子刻蚀制备硅点阵的方法,即利用PDMS模板通过压印复制获得PMMA掩模结构,用反应离子刻蚀在硅片表面制得高度有序的硅纳米点阵结构。实验和有限元模拟结果表明,低压压印因为毛细作用下光刻胶在模板内的充分填充可以获得良好的图形复制精度和较小的残余胶厚度,因此适于大面积高密度光刻胶结构的均匀复制。
关键词
硅点阵
纳米压印
反应离子刻蚀
有限元分析
Keywords
silicon nanodot array
nanoimprint lithography
reactive ion etching
finite element analysis
分类号
TB79 [一般工业技术—真空技术]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
低压压印制备硅点阵结构的工艺研究
刘玉东
陶伟
王时飞
李鑫
王旭迪
《真空》
CAS
2013
2
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