田口方法在X射线荧光分析时曲线校正中的应用

根据田口玄一博士在测量工程学中提出的信噪比概念,计算了X荧光分析中某一标准曲线极限信噪比。当日常测试中系统的信噪比大于极限值时,不需要对曲线进行校正;当日常测试中系统的信噪比小于极限值时,应对曲线进行校正,以保证该测量系统工作的稳定性。