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一种组合电路内建自测试的改进方法
1
作者
朱敏
杨春玲
+1 位作者
周文
庞亮
《计算机测量与控制》
CSCD
2008年第12期1806-1808,共3页
对组合电路的测试提出了一种将确定性测试生成方法与内建自测试相结合的设计方案;设计实现了利用D算法生成的测试矢量和伪随机测试序列生成电路共同构成测试矢量生成模块,利用内建自测试方法完成可测性设计,并将两者结合得出组合电路内...
对组合电路的测试提出了一种将确定性测试生成方法与内建自测试相结合的设计方案;设计实现了利用D算法生成的测试矢量和伪随机测试序列生成电路共同构成测试矢量生成模块,利用内建自测试方法完成可测性设计,并将两者结合得出组合电路内建自测试的改进方法;分析与实验结果表明,该方法能减少系统硬件占用,同时具有测试向量少、故障覆盖率高的特点。
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关键词
伪随机测试序列
内建自测试
D算法
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职称材料
题名
一种组合电路内建自测试的改进方法
1
作者
朱敏
杨春玲
周文
庞亮
机构
哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院
吉油集团公司热电厂
出处
《计算机测量与控制》
CSCD
2008年第12期1806-1808,共3页
文摘
对组合电路的测试提出了一种将确定性测试生成方法与内建自测试相结合的设计方案;设计实现了利用D算法生成的测试矢量和伪随机测试序列生成电路共同构成测试矢量生成模块,利用内建自测试方法完成可测性设计,并将两者结合得出组合电路内建自测试的改进方法;分析与实验结果表明,该方法能减少系统硬件占用,同时具有测试向量少、故障覆盖率高的特点。
关键词
伪随机测试序列
内建自测试
D算法
Keywords
Linear feedback shift register (LFSR)
Built--in self test (BIST)
D algorithm
分类号
TP274 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
一种组合电路内建自测试的改进方法
朱敏
杨春玲
周文
庞亮
《计算机测量与控制》
CSCD
2008
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