界面层对激光减反膜的影响研究

激光技术的发展对减反膜提出了超高透过率的要求,基板的表面特征在高精度减反膜的设计与制造中不可忽略。选择熔融石英为基板,Ta2O5和SiO2为高低折射率膜层材料,针对在0°入射角下工作的532 nm激光减反膜进行设计与分析,得到膜层内的电场分布。在模拟计算中将基板的表面粗糙度等效为等比例混合膜,计算分析了理想设计条件下不同厚度界面层的V型减反膜,得到透过率与界面粗糙度的数值函数关系,最后利用数值优化的方法对理想设计进行修正,得到了存在界面层的减反膜修正结果,研究结果有助于实现超高透过率短波长激光减反膜的设计与制备。

ZnGeP_2晶体的合成与生长

采用双温区法合成ZnGeP2多晶料;采用布里奇曼法生长ZnGeP2单晶,晶体尺寸为φ22×90 mm^2。晶体透光范围0.7-12.0μm,平均透过率达到56%;OPO光参量震荡器件尺寸6×6×15 mm^3,采用2μm的泵浦光,产生4W以上的3.8-4.5μm激光输出。

S_4分子结构和振动光谱的从头算

利用量子化学的从头算方法 ,在 6 31 1 +G 基组下 ,分别应用HF ,MP2 ,BLYP ,B3LYP方法优化各种可能的S4分子构型 ,计算各构型的振动光谱 ,并在HF 6 31 1 +G 优化的几何结构基础上 ,分别在MP4 6 31 1 +G 和QCISD(T) 6 31 1 +G 水平上考虑相关能修正对总能量的影响 .比较各种方法计算的几何结构的差别和各构型的相对稳定性 ,得出顺式平面C2v对称构型为基态的结论 .计算表明 ,确定该类分子的基态构型必须考虑电子关联效应的影响 ,B3LYP是计算该类分子既经济又实用的方法 .

多普勒雷达系统中声光调制器的频移误差

声光调制器的频移误差影响多普勒雷达系统的速度精确测量值。为了分析多普勒雷达系统中声光调制器的频移误差,利用自外差的方法研究了声光调制器中声场和光频相互作用而产生的固定频移,通过统计的方法研究了在不同(但恒定)声场驱动频率下声光作用产生的频移误差。实验结果表明:该声光调制器在多普勒雷达系统中所产生的频移误差小于0.61MHz,即对于1064nm波长,多普勒速度测量误差小于0.3m/s。对多普勒精确测量系统误差分析研究有一定的参考价值。

反常声光偏转器收发光路的可逆性研究

提出了一种卫星光通信终端中反常声光偏转器(反常AOD)的工作方式。基于反常布拉格衍射几何关系,获得了非宽带匹配模式下的Dixon方程,设计了收发光路可逆性实验验证系统。实验结果表明,反常AOD收发光路可逆。