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彩电用高频小功率塑封器件可焊性评价和分析
1
作者
刘世华
丁凤霞
+1 位作者
李树杰
徐立生
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1990年第6期19-21,共3页
对19批国家质量抽检彩电用高频小功率塑封器件的可焊性,采用润湿称量法,进行了客观评价,给出数据和结果分析,指出:在国内19个厂家中大约有三分之一的厂家产品可焊性符合国标GB2424-21-85标准规定要求,其中三分之二厂家产品的可焊性在及...
对19批国家质量抽检彩电用高频小功率塑封器件的可焊性,采用润湿称量法,进行了客观评价,给出数据和结果分析,指出:在国内19个厂家中大约有三分之一的厂家产品可焊性符合国标GB2424-21-85标准规定要求,其中三分之二厂家产品的可焊性在及格线以下,对可能产生润湿不良的原因作了分析,并与槽焊法结果作了对比。
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关键词
彩电
功率塑封器件
可焊性
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职称材料
题名
彩电用高频小功率塑封器件可焊性评价和分析
1
作者
刘世华
丁凤霞
李树杰
徐立生
机构
国家半导体器件质量检测中心
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1990年第6期19-21,共3页
文摘
对19批国家质量抽检彩电用高频小功率塑封器件的可焊性,采用润湿称量法,进行了客观评价,给出数据和结果分析,指出:在国内19个厂家中大约有三分之一的厂家产品可焊性符合国标GB2424-21-85标准规定要求,其中三分之二厂家产品的可焊性在及格线以下,对可能产生润湿不良的原因作了分析,并与槽焊法结果作了对比。
关键词
彩电
功率塑封器件
可焊性
分类号
TN949.12 [电子电信—信号与信息处理]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
彩电用高频小功率塑封器件可焊性评价和分析
刘世华
丁凤霞
李树杰
徐立生
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
1990
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