印制电路板导电阳极灯丝失效分析

随着印制电路板(PCB)向高密度、高频高速化发展,其对可靠性的要求也越来越高。导电阳极丝(CAF)失效作为PCB可靠性的一个重要因素,成为了行业的关注要点。通过实际案例寻找CAF失效点,采用失效区域定位、外观检查、切片分析、扫描电子显微镜(SEM)及能谱(EDS)分析等手段,分析CAF失效原因,并从生产工艺及材料两方面入手,帮助PCB制造商和材料商改进CAF工艺。

印制电路板湿热环境试验失效案例分析

文章介绍了一批次CAF标准测试板,在试验过程中,发现0.7 mm孔对孔图形监测的电阻值出现异常现象。文章通过设计验证性试验,分析查找引起失效产生的原因。

化学镀镍/金PCB焊点失效分析

以印制电路板(PCB)焊点焊接不良为例,通过外观检查、扫描电子显微镜(SEM)和能量色散谱(EDS)分析及切片分析等方法,分析其失效机理与原因。通过SEM发现焊盘表面镀层有严重龟裂的现象,镍层裂纹暴露于空气中后发生氧化反应而出现连续镍层腐蚀现象,这是最终导致焊盘表面上锡不良的主要诱因。

多层PCB互连应力测试技术及实验验证

随着新能源汽车车载充电机效率和功率的逐步提升,对印制电路板(PCB)的可靠性提出了更高的要求。分析了测试基本原理以及目前国内外的研究现状,依据IPC-TM-6502.6.26:2014中测试方法A提出的测试标准对研制的设备进行互连应力测试(IST)。基于IST原理,分析测试中样品的失效机理,找到需要监控的主要变量。并介绍了四线制测量电路、温度校准等难点。在温度校准中,电阻温度系数会影响样品温度的准确性,因此该变量尤为重要。进行了大量测试,以验证本设备的功能完整性以及使用过程中的稳定性和安全性。此外,使用本设备与IPC标准中指定的IST设备进行了对比测试。测试结果表明,本设备在控制保护程序、数据处理及温度校准方面相比于参考设备更具优势。