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高能P^+注入硅和N+Zn双注入GaAsP热退火过程中的分形生长
1
作者
吴瑜光
张通和
《中国科学(E辑)》
CSCD
1997年第4期304-309,共6页
研究了高能P^+注入硅和Zn+N双注入GaAsP热退火过程中分形生长过程与退火温度和注入杂质电激活率的关系.分析了2种注入条件下分形生长各自的特点,讨论了分形生长和生长的机理.
关键词
分形生长
离子注入
硅
锗砷磷
砷
原文传递
题名
高能P^+注入硅和N+Zn双注入GaAsP热退火过程中的分形生长
1
作者
吴瑜光
张通和
机构
国家教育委员会射线束材料工程开放研究实验室
出处
《中国科学(E辑)》
CSCD
1997年第4期304-309,共6页
基金
国家自然科学基金资助项目
文摘
研究了高能P^+注入硅和Zn+N双注入GaAsP热退火过程中分形生长过程与退火温度和注入杂质电激活率的关系.分析了2种注入条件下分形生长各自的特点,讨论了分形生长和生长的机理.
关键词
分形生长
离子注入
硅
锗砷磷
砷
分类号
TN304.12 [电子电信—物理电子学]
TN304.26 [电子电信—物理电子学]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
高能P^+注入硅和N+Zn双注入GaAsP热退火过程中的分形生长
吴瑜光
张通和
《中国科学(E辑)》
CSCD
1997
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