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A/D转换芯片的测试环境构成及测试方法 被引量:1
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作者 陈莉莉 周斌 《电子技术应用》 北大核心 2002年第12期26-29,共4页
介绍了通过Labview编程环境,运用系统集成的方法,集成具有GPIB接口的测试设备,实现数字电路测试系统向混合信号测试方向扩展的方法。并阐述了A/D转换芯片的几种主要测试方法:柱形图分析法、离散参数傅立叶变换法、拍频测试法等的基本原... 介绍了通过Labview编程环境,运用系统集成的方法,集成具有GPIB接口的测试设备,实现数字电路测试系统向混合信号测试方向扩展的方法。并阐述了A/D转换芯片的几种主要测试方法:柱形图分析法、离散参数傅立叶变换法、拍频测试法等的基本原理及实现方法。 展开更多
关键词 A/D转换芯片 测试环境 测试方法 集成电路测试 混合信号 系统集成
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