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JEM-2010 FEF-TEM对纳米材料显微结构的研究
1
作者
牟诗城
魏玉顺
+1 位作者
于海翔
刘肇萌
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2005年第4期258-258,共1页
关键词
纳米材料
显微结构
金纳米颗粒
透射电子显微镜
结构特征
尺寸分布
能量过滤
SiO2
微颗粒
下载PDF
职称材料
高分辨LEO1530 VP扫描电镜在纳米技术研究中的应用
2
作者
牟诗城
于海翔
刘肇萌
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2005年第4期261-261,共1页
关键词
纳米技术研究
扫描电镜
高分辨率
应用
LEO
VP
尺寸测量
纳米材料
纳米加工
下载PDF
职称材料
题名
JEM-2010 FEF-TEM对纳米材料显微结构的研究
1
作者
牟诗城
魏玉顺
于海翔
刘肇萌
机构
国家纳米产业化基地中心试验室
出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2005年第4期258-258,共1页
关键词
纳米材料
显微结构
金纳米颗粒
透射电子显微镜
结构特征
尺寸分布
能量过滤
SiO2
微颗粒
分类号
TB383 [一般工业技术—材料科学与工程]
TB43 [一般工业技术]
下载PDF
职称材料
题名
高分辨LEO1530 VP扫描电镜在纳米技术研究中的应用
2
作者
牟诗城
于海翔
刘肇萌
机构
国家纳米产业化基地中心试验室
出处
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2005年第4期261-261,共1页
关键词
纳米技术研究
扫描电镜
高分辨率
应用
LEO
VP
尺寸测量
纳米材料
纳米加工
分类号
TB383 [一般工业技术—材料科学与工程]
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作者
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1
JEM-2010 FEF-TEM对纳米材料显微结构的研究
牟诗城
魏玉顺
于海翔
刘肇萌
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2005
0
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职称材料
2
高分辨LEO1530 VP扫描电镜在纳米技术研究中的应用
牟诗城
于海翔
刘肇萌
《电子显微学报》
CAS
CSCD
2005
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