铀表面状态的变角度XPS研究

采用变角度XPS(X射线光电子谱)技术研究了贫铀的初期氧化过程,获取了金属态贫铀表面U4f和O1s谱峰以及价带的XPS谱。研究结果表明:变角度技术对金属铀表面初期的氧化过程揭示得更为详细,而且,金属铀表面外围电子只有离域态性质,未出现局域态,并对比文献中关于“U/基材”体系的实验结果进行了讨论。通过比较15°、45°和85°分析角度下O1s与U4f的XPS谱峰强度比值随时间的变化关系,观测到氧和铀的谱峰强度比值存在明显的差异,表明变角度技术可很好地应用于处于超高真空中的金属铀表面在初期氧化过程中的研究。