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有机添加剂对铜互连线脉冲电镀的影响
被引量:
4
1
作者
陈敏娜
曾磊
+3 位作者
汪礼康
张卫
徐赛生
张立锋
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2007年第5期387-390,共4页
针对集成电路电镀铜技术,研究了三种有机添加剂(加速剂、抑制剂和平整剂)对铜互连线脉冲电镀的影响及其机制。采用电化学方法LCV(线性循环伏安法)和CP(计时电势法),分析了不同添加剂浓度下电镀过程的极化情况;用SEM表征了三种添加剂对...
针对集成电路电镀铜技术,研究了三种有机添加剂(加速剂、抑制剂和平整剂)对铜互连线脉冲电镀的影响及其机制。采用电化学方法LCV(线性循环伏安法)和CP(计时电势法),分析了不同添加剂浓度下电镀过程的极化情况;用SEM表征了三种添加剂对脉冲电镀铜的镀层结构形貌的影响。研究发现,适当浓度的添加剂组成能显著改善镀层的覆盖度、紧致均匀性和平整性。
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关键词
铜互连
添加剂
脉冲电镀
粗糙度
极化
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职称材料
题名
有机添加剂对铜互连线脉冲电镀的影响
被引量:
4
1
作者
陈敏娜
曾磊
汪礼康
张卫
徐赛生
张立锋
机构
复旦大学微电子研究院复旦-诺发铜互连研究中心
出处
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2007年第5期387-390,共4页
文摘
针对集成电路电镀铜技术,研究了三种有机添加剂(加速剂、抑制剂和平整剂)对铜互连线脉冲电镀的影响及其机制。采用电化学方法LCV(线性循环伏安法)和CP(计时电势法),分析了不同添加剂浓度下电镀过程的极化情况;用SEM表征了三种添加剂对脉冲电镀铜的镀层结构形貌的影响。研究发现,适当浓度的添加剂组成能显著改善镀层的覆盖度、紧致均匀性和平整性。
关键词
铜互连
添加剂
脉冲电镀
粗糙度
极化
Keywords
Cu interconnect
additives
pulse electroplating
roughness
polarization
分类号
TQ153 [化学工程—电化学工业]
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题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
有机添加剂对铜互连线脉冲电镀的影响
陈敏娜
曾磊
汪礼康
张卫
徐赛生
张立锋
《半导体技术》
CAS
CSCD
北大核心
2007
4
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