虚实结合的开放式电类实验教学模式研究

针对我校电工电子实验中心的现状和不足,对实验教学进行如下改革:优化教学体系、整合教学内容,引入仿真教学,研发高质量教学资源,探索虚实结合的开放式电类实验教学模式。实践表明,新的教学模式可以促进教学水平的提高,培养学生的实践创新能力,提高高校实验室在人才培养中的作用。

PECVD淀积Si_3N_4作为光刻掩膜版的保护膜

采用等离子增强化学汽相淀积(PECVD)方法淀积Si3N4薄膜作为光刻掩膜版的保护膜,可以降低掩膜版受损程度,延长使用寿命。分析了Si3N4膜厚的选取要求,给出了PECVD淀积Si3N4膜的工艺条件。实际制作了带有Si3N4保护的光刻掩膜版,并与不带Si3N4保护的掩膜版的使用情况做了对比。结果表明,带有Si3N4保护的光刻掩膜版的使用寿命可明显延长2倍以上。

一种高电源抑制比的曲率补偿带隙基准电压源

基于0.13μm CMOS工艺设计了一个高阶曲率补偿带隙基准电压源,该带隙基准电压源具有低温度系数和高电源抑制比(PSRR)。通过高阶曲率补偿电路得到低温度系数;在该带隙基准电压源的核心电路中,使电流镜管的栅源电压保持恒定值来实现在一定频段下的PSRR增强。利用Cadence工具进行了仿真,并进行了流片验证,测试结果表明,该带隙基准电压源具有恒定的1.2 V基准电压,在-45~165℃内,基准电压的温度系数为3.95×10-6/℃;PSRR在10 kHz下为74.7 dB,在1 MHz下为42 dB;电路启动时间为1.4μs。该设计已应用于高精度嵌入式电源管理芯片的低压差线性稳压器中。

浅谈电子产品质量管理

在当今社会中电子产品是必不可少的,各个行业、各个部门都要用到电子产品。随着人们生活水平的提高,大众对电子产品的要求也越来越高,电子产品的质量是电子产品安全正常工作的保障,近年来,各地出现了许多手机、充电宝等电子产品的爆炸事件,这在一定程度上使得人们更加关注电子产品的质量问题,电子产品的质量也是各个生产厂家吸引顾客,提高市场占有率的法宝,因此提升电子产品质量成为了生产厂家的关注重点。本文针对电子产品的质量管理进行分析,对电子产品质量的影响因素进行归纳总结,并对其质量控制方法进行探讨。

集成电路测试的意义和作用

本文针对集成电路测试的意义和作用进行了分析,探讨了集成电路测试的流程以及典型电路测试的案例。

氮化硅的刻蚀及其它应用

氮化硅介质作为集成电路或半导体功率器件的介质层,具有掩蔽杂质沾污的作用,通过一系列试验研究,找到了氮化硅的干法、湿法刻蚀工艺,对半导体器件的性能有很好的提高,并且通过试验,还发现氮化硅具有透明耐摩擦的特性,可用于制作掩膜版的保护膜。

JT54LS273型集成电路加速寿命试验研究

本文介绍了加速寿命试验中最为常用的阿伦尼斯模型,并按该模型选择JT54LS273型集成电路变化最大的关键参数,求得元器件在常温贮存时的数学模型,以常温贮存数据作为评价元器件加速贮存寿命的主要依据。选择同型号、同品种的元器件,进行高温加速贮存试验与常温贮存试验数据进行比较,并建立加速贮存试验模型。得出同一型号同一品种器件的高温贮存加速因子、高温贮存试验时间,提前得出器件长期贮存试验数据,以判断器件是否满足储存期要求,并给出试验结论。

多功能远程监控系统的设计与实现

以STC89C52为核心,基于NRF24L01单片射频收发模块设计了多功能温度、湿度和烟雾远程采集监控系统,完成了硬件、软件和通信模块的设计。系统能自动监测温度、湿度和烟雾,数据采集系统以串口与嵌入式终端进行通信。软件设计包括嵌入式监控终端应用开发、安卓手机客户端软件开发和单片机数据采集系统开发。