磁力显微镜(magnetic force microscopy,MFM)是研究磁性材料与器件纳米尺度磁畴结构的有力工具,MFM探针性能直接影响到MFM的空间分辨率。本文研究了退火温度对FePt-MgO薄膜结构与磁性能的影响,并对MFM探针制备条件进行优化。研究结果表...磁力显微镜(magnetic force microscopy,MFM)是研究磁性材料与器件纳米尺度磁畴结构的有力工具,MFM探针性能直接影响到MFM的空间分辨率。本文研究了退火温度对FePt-MgO薄膜结构与磁性能的影响,并对MFM探针制备条件进行优化。研究结果表明:随着退火温度升高,FePt-MgO薄膜的表面形貌变得粗糙且不连续,薄膜的矫顽力增大,测得的磁畴密度减小,畴壁变得模糊;使用自制的MFM探针可以成功测得硬磁薄膜、磁带及硬盘驱动器介质的磁畴结构。展开更多
文摘磁力显微镜(magnetic force microscopy,MFM)是研究磁性材料与器件纳米尺度磁畴结构的有力工具,MFM探针性能直接影响到MFM的空间分辨率。本文研究了退火温度对FePt-MgO薄膜结构与磁性能的影响,并对MFM探针制备条件进行优化。研究结果表明:随着退火温度升高,FePt-MgO薄膜的表面形貌变得粗糙且不连续,薄膜的矫顽力增大,测得的磁畴密度减小,畴壁变得模糊;使用自制的MFM探针可以成功测得硬磁薄膜、磁带及硬盘驱动器介质的磁畴结构。