J750测试系统稳定性分析

J750测试系统是一种超大规模逻辑及存储器件测试系统。本文通过一系列的数据采集,同时应用统计学的分析方法,借助于Minitab统计分析软件,分别对采集到的数据进行了分析,从而得到测试系统的一些性能参数,进而可以分析出测试系统的稳定性。通过这一系列分析后,可以找到影响生产率的各种因素,大大提高测试系统的工作效率,缩短产品的复测时间,提高良品率,提高测试的准确率,进而提高生产率。

Wi-Fi芯片基于IFLEX量产测试开发浅析

本文测试的芯片是一款针对物联网市场开发的高性能2.4 GHz/5 GHz双频Wi-Fi射频芯片,支持802.11 a/b/g/n,Wi-Fi Direct、Soft AP以及STA/AP模式共存。具有高速性、稳定性和传输距离远等特点,可以高度匹配音视频流媒体传输。广泛应用于无线流媒体音视频播放、虚拟现实、无人机、运动相机、车联网、工业控制、智能家居等领域。本文将对双频Wi-Fi芯片基于IntegraFlex平台量产测试开发流程的简要分析,主要围绕测试硬件和软件两个方面进行阐述。