锰硅X荧光光谱分析的研究

选用最佳制样时间控制试样粒度;在一定压力条件下,用特制合金样托压制MnS i试样;采用标样控制仪器状态,分析总量控制分析准确度的方法,提高锰、硅的分析准确度,压片分析值与化学值相比,结果良好。