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Link-OPAL系统中断口解理面取向的电子背散射衍射测定方法 被引量:5
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作者 文九巴 戎咏华 +2 位作者 陈世朴 胡赓祥 陈家光 《电子显微学报》 CAS CSCD 1998年第6期763-766,共4页
本文介绍一种利用Link-OPAL系统电子背散射衍射(EBSD)技术对多晶体材料脆性解理刻面晶体学位向测定的方法。对多晶Al67Mn8Ti25金属间化合物室温脆性解理断口的实验测定表明。
关键词 电子背散射衍射 解理刻面 金属间化合物
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