智能优化的英语试题库组卷策略研究

如何从给定的一个庞大英语试题库中自动生成满足一定要求的测试试题是目前我国利用计算机进行英语辅助教学的一个重要研究课题。针对英语测试试题的题型结构,建立了一个智能组卷的新模型,同时给出了求解的智能方法,最后的数值试验结果表明,新方法对按照教师或英语教学大纲的要求生成一份有效的英语考试试卷是非常有效的。

基于关键面积的冗余集成电路成品率分析

利用关键面积的思想分析了冗余电路的成品率 ,并给出了其计算模型 .实例模拟表明 ,与传统的成品率分析方法相比 ,该模型预测 IC成品率具有更高的精度 .

集成电路互连线寿命的工艺缺陷影响分析

在深亚微米和超深亚微米集成电路中,互连线失效是影响集成电路可靠性的主要因素之一.由于在集成电路制造过程中存在着缺陷,缺陷的出现导致了集成电路可靠性的下降,尤其是出现在互连线上的丢失物缺陷加剧了互连线的电迁移效应,因此电迁移失效依然是其主要的失效模式.文中讨论了电路的互连线的寿命模型,分析了丢失物缺陷以及刻蚀工艺的扰动对互连线宽度的影响,提出了新的互连线寿命估计模型.该模型还考虑了线宽、线长和缺陷峰值粒径等因素对导线寿命的影响.利用该模型可以估算出受丢失物缺陷以及刻蚀工艺扰动影响的互连线的寿命变化情况,这对IC电路设计有一定的指导作用.文中还利用模拟实验证明了该模型的有效性.

基于缺陷均匀分布的互连线间耦合电容分析

互连线的寄生效应是制约深亚微米VLSI电路实现高速、高密度的关键因素.文中分析了集成电路制造过程中的工艺缺陷对互连线间寄生电容的影响,给出了考虑缺陷等因素的线间寄生电容模型.模拟结果表明,导电冗余物缺陷明显增加了线间寄生电容,从而对电路的可靠性有较大影响.