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用高频红外碳硫仪测定碳化硅中SiC
被引量:
5
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作者
高卓成
胡广峰
衣中文
《冶金分析》
CAS
CSCD
北大核心
1999年第3期42-43,共2页
关键词
碳化硅
测定
碳硫仪
红外分析
下载PDF
职称材料
题名
用高频红外碳硫仪测定碳化硅中SiC
被引量:
5
1
作者
高卓成
胡广峰
衣中文
机构
山东莱芜钢铁总厂技术监督处
出处
《冶金分析》
CAS
CSCD
北大核心
1999年第3期42-43,共2页
关键词
碳化硅
测定
碳硫仪
红外分析
分类号
O613.72 [理学—无机化学]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
用高频红外碳硫仪测定碳化硅中SiC
高卓成
胡广峰
衣中文
《冶金分析》
CAS
CSCD
北大核心
1999
5
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职称材料
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