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ICP-AES用于化探扫面中多元素同时测定
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作者 胡敬华 高晋章 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS 1982年第Z2期227-231,共5页
本文对ICP-AES用于化探试样进行了研究,找出了ICP-AES同时多元素测定化探试样的最佳工作条件。氢氟酸、高氯酸处理样品,直接雾化不去溶进样,多元素同时测定,费用降低,分析速度加快。
关键词 AES ICP-AES 多元素同时测定 谱线强度 化探 地球化学勘探 观测高度 基体效应 化探样品 气压力 多元素同时分析 扫面
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