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ICP-AES直接测定锑产品中杂质元素 被引量:8
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作者 袁齐 《光谱学与光谱分析》 SCIE EI CAS CSCD 北大核心 2001年第4期540-541,共2页
建立了ICP AES直接测定锑产品中杂质元素的新方法。在折衷工作条件下锑的浓度低于 5mg·mL-1不干扰测定。As、Cu、Fe、Pb、Se的检出限满足分析要求。混合标准回收率 94 0 %~ 10 7 1% ,相对标准偏差 <5 % ,结果满意。
关键词 ICP-AES 锑产品 杂质元素 直接测定
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