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ICP-AES直接测定锑产品中杂质元素
被引量:
8
1
作者
袁齐
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2001年第4期540-541,共2页
建立了ICP AES直接测定锑产品中杂质元素的新方法。在折衷工作条件下锑的浓度低于 5mg·mL-1不干扰测定。As、Cu、Fe、Pb、Se的检出限满足分析要求。混合标准回收率 94 0 %~ 10 7 1% ,相对标准偏差 <5 % ,结果满意。
关键词
ICP-AES
锑产品
杂质元素
直接测定
下载PDF
职称材料
题名
ICP-AES直接测定锑产品中杂质元素
被引量:
8
1
作者
袁齐
机构
岭南铅锌集团公司冶炼研究所
出处
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2001年第4期540-541,共2页
文摘
建立了ICP AES直接测定锑产品中杂质元素的新方法。在折衷工作条件下锑的浓度低于 5mg·mL-1不干扰测定。As、Cu、Fe、Pb、Se的检出限满足分析要求。混合标准回收率 94 0 %~ 10 7 1% ,相对标准偏差 <5 % ,结果满意。
关键词
ICP-AES
锑产品
杂质元素
直接测定
Keywords
ICP-AES
antimony product
impurity elements
分类号
TG146.18 [金属学及工艺—金属材料]
TG115.33 [金属学及工艺—物理冶金]
下载PDF
职称材料
题名
作者
出处
发文年
被引量
操作
1
ICP-AES直接测定锑产品中杂质元素
袁齐
《光谱学与光谱分析》
SCIE
EI
CAS
CSCD
北大核心
2001
8
下载PDF
职称材料
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