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题名单晶材料X射线应力测定原理与方法
被引量:3
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作者
陈艳华
须庆
姜传海
嵇宁
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机构
上海交通大学材料科学与工程学院
新疆大学物理科学与技术学院
巴黎十一大分子化学和材料学院
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出处
《理化检验(物理分册)》
CAS
2012年第3期144-147,共4页
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基金
国家自然科学基金资助项目(50771066)
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文摘
结合单晶X射线应力测定基本原理,通过必要的理论分析,对现有单晶应力测定方法进行必要的改进和优化。基于工程实际应用需要,精简了单晶应力测定步骤并拓宽其应用范围,即不需要事先精确已知2θ0,只需改变空间方位角ψ和φ,再通过多元线形回归分析方法即可计算出各应力分量。最后给出了单晶应力测定的典型实例,即对同一部位重复测定应力,证实测量误差不超过±20MPa,说明该方法具有较高的测量精度和可靠性。
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关键词
单晶材料
X射线衍射
残余应力测定
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Keywords
single crystal material
Xray diffraction
residual stress measurement
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分类号
TB302
[一般工业技术—材料科学与工程]
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