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单晶材料X射线应力测定原理与方法 被引量:3
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作者 陈艳华 须庆 +1 位作者 姜传海 嵇宁 《理化检验(物理分册)》 CAS 2012年第3期144-147,共4页
结合单晶X射线应力测定基本原理,通过必要的理论分析,对现有单晶应力测定方法进行必要的改进和优化。基于工程实际应用需要,精简了单晶应力测定步骤并拓宽其应用范围,即不需要事先精确已知2θ0,只需改变空间方位角ψ和φ,再通过多元线... 结合单晶X射线应力测定基本原理,通过必要的理论分析,对现有单晶应力测定方法进行必要的改进和优化。基于工程实际应用需要,精简了单晶应力测定步骤并拓宽其应用范围,即不需要事先精确已知2θ0,只需改变空间方位角ψ和φ,再通过多元线形回归分析方法即可计算出各应力分量。最后给出了单晶应力测定的典型实例,即对同一部位重复测定应力,证实测量误差不超过±20MPa,说明该方法具有较高的测量精度和可靠性。 展开更多
关键词 单晶材料 X射线衍射 残余应力测定
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