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一种对微处理器进行控制和数据采集的自动测试系统
1
作者
阎世栋
《电工技术杂志》
2002年第4期21-22,26,共3页
对MCU处理器软件功能验证的常规方案是逐点输入控制量 ,再逐点监测输出信号的时序和数值。该测试方案是希望预置一条或多条应用户特殊要求、连续变化的控制曲线来控制MCU的输入量 ,再实时采集MCU的输出口 ,监测输出信号连续变化的历史波...
对MCU处理器软件功能验证的常规方案是逐点输入控制量 ,再逐点监测输出信号的时序和数值。该测试方案是希望预置一条或多条应用户特殊要求、连续变化的控制曲线来控制MCU的输入量 ,再实时采集MCU的输出口 ,监测输出信号连续变化的历史波形 ,真实客观评价在连续变化的工况下 ,程序处理的稳定性。
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关键词
微处理器
控制
数据采集
自动测试系统
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职称材料
题名
一种对微处理器进行控制和数据采集的自动测试系统
1
作者
阎世栋
机构
广东美的电子科技有限公司
出处
《电工技术杂志》
2002年第4期21-22,26,共3页
文摘
对MCU处理器软件功能验证的常规方案是逐点输入控制量 ,再逐点监测输出信号的时序和数值。该测试方案是希望预置一条或多条应用户特殊要求、连续变化的控制曲线来控制MCU的输入量 ,再实时采集MCU的输出口 ,监测输出信号连续变化的历史波形 ,真实客观评价在连续变化的工况下 ,程序处理的稳定性。
关键词
微处理器
控制
数据采集
自动测试系统
分类号
TP274 [自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]
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职称材料
题名
作者
出处
发文年
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1
一种对微处理器进行控制和数据采集的自动测试系统
阎世栋
《电工技术杂志》
2002
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