X射线衍射里特沃尔德全谱图拟合法测定粉尘中游离的SiO2

应用X射线衍射技术与Rietveld全谱图拟合法测定了粉尘中游离SiO2的含量，并同时得到粉尘样品中其它晶相和非晶相物质的含量。实验采用日本理学D／MAX2500V型X射线衍射仪，CuKα辐射带石墨单色器，管电压44kV，管电流150mA，步进扫描收集衍射数据，经Jade5．0软件定性分析，DBWS9807a软件定量分析，结果为：Rp平均等于11．29％，Rwp平均等于13．74％，Rexpected平均等于4．04％。SiO2在各样品中的含量为15．61％-37．83％；加标回收率为102．6％-119．9％；重现性测定相对标准偏差（RSD）为1．14％。结果表明：用Rietveld全谱图拟合法测定粉尘中游离SiO2的含量是一种快速、准确、方便的方法。

CuSb合金的Rietveld法定量相分析

利用RietveldX射线粉末衍射全谱图拟合方法,对Cu-Sb合金中的相组成(即Cu2Sb和Cu3Sb的相对含量)做定量相分析,该样品中Cu2Sb的相对含量为89.9%,Cu3Sb为10.1%,Rietvel分析的可靠性因子为RP=6.1%,Rwp=8.9%和S=1.0,并且进一步讨论数据收集范围及质量对分析结果的影响.

Sb_2O_3的Rietveld法定量相分析

用Rietveld法对含有立方和正交两种晶型的Sb2O3样品进行了定量相分析,该样品含立方晶型和正交晶型的Sb2O3分别为(质量分数)97.92%和2.08%。结果表明,用Rietveld法进行的定量相分析是非常有效和精确的。